Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate

Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonyw...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: GÓRECKI KRZYSZTOF, ZAR BSKI JANUSZ, GÓRECKI PAWE
Format: Patent
Sprache:eng ; pol
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator GÓRECKI KRZYSZTOF
ZAR BSKI JANUSZ
GÓRECKI PAWE
description Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9).
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_PL403813A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>PL403813A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_PL403813A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqFjLEKwkAQRNNYiPoN7g8IhljYiigWChb2YU02uYPL3rG7Ifj3JsHeYmaK95hlxg8yF2tArkE_atRBEwU6Qu3FcwvmaIp0GEBIvRpyRRCbmbx9igEFUhxIwAR5MsaDwZubDc_aBzSqoR17nS0aDEqb366y7fXyOt92lGJJmrAiJiuf98O-OObFKS_-G1_hoUIl</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate</title><source>esp@cenet</source><creator>GÓRECKI KRZYSZTOF ; ZAR BSKI JANUSZ ; GÓRECKI PAWE</creator><creatorcontrib>GÓRECKI KRZYSZTOF ; ZAR BSKI JANUSZ ; GÓRECKI PAWE</creatorcontrib><description>Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9).</description><language>eng ; pol</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; TESTING</subject><creationdate>2014</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20141110&amp;DB=EPODOC&amp;CC=PL&amp;NR=403813A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25547,76298</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20141110&amp;DB=EPODOC&amp;CC=PL&amp;NR=403813A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>GÓRECKI KRZYSZTOF</creatorcontrib><creatorcontrib>ZAR BSKI JANUSZ</creatorcontrib><creatorcontrib>GÓRECKI PAWE</creatorcontrib><title>Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate</title><description>Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9).</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2014</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqFjLEKwkAQRNNYiPoN7g8IhljYiigWChb2YU02uYPL3rG7Ifj3JsHeYmaK95hlxg8yF2tArkE_atRBEwU6Qu3FcwvmaIp0GEBIvRpyRRCbmbx9igEFUhxIwAR5MsaDwZubDc_aBzSqoR17nS0aDEqb366y7fXyOt92lGJJmrAiJiuf98O-OObFKS_-G1_hoUIl</recordid><startdate>20141110</startdate><enddate>20141110</enddate><creator>GÓRECKI KRZYSZTOF</creator><creator>ZAR BSKI JANUSZ</creator><creator>GÓRECKI PAWE</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20141110</creationdate><title>Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate</title><author>GÓRECKI KRZYSZTOF ; ZAR BSKI JANUSZ ; GÓRECKI PAWE</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_PL403813A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; pol</language><creationdate>2014</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>GÓRECKI KRZYSZTOF</creatorcontrib><creatorcontrib>ZAR BSKI JANUSZ</creatorcontrib><creatorcontrib>GÓRECKI PAWE</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>GÓRECKI KRZYSZTOF</au><au>ZAR BSKI JANUSZ</au><au>GÓRECKI PAWE</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate</title><date>2014-11-10</date><risdate>2014</risdate><abstract>Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9).</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; pol
recordid cdi_epo_espacenet_PL403813A1
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
SEMICONDUCTOR DEVICES
TESTING
title Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-16T09%3A10%3A32IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=G%C3%93RECKI%20KRZYSZTOF&rft.date=2014-11-10&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EPL403813A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true