Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate
Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonyw...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; pol |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | GÓRECKI KRZYSZTOF ZAR BSKI JANUSZ GÓRECKI PAWE |
description | Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9). |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_PL403813A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>PL403813A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_PL403813A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqFjLEKwkAQRNNYiPoN7g8IhljYiigWChb2YU02uYPL3rG7Ifj3JsHeYmaK95hlxg8yF2tArkE_atRBEwU6Qu3FcwvmaIp0GEBIvRpyRRCbmbx9igEFUhxIwAR5MsaDwZubDc_aBzSqoR17nS0aDEqb366y7fXyOt92lGJJmrAiJiuf98O-OObFKS_-G1_hoUIl</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate</title><source>esp@cenet</source><creator>GÓRECKI KRZYSZTOF ; ZAR BSKI JANUSZ ; GÓRECKI PAWE</creator><creatorcontrib>GÓRECKI KRZYSZTOF ; ZAR BSKI JANUSZ ; GÓRECKI PAWE</creatorcontrib><description>Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9).</description><language>eng ; pol</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; TESTING</subject><creationdate>2014</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20141110&DB=EPODOC&CC=PL&NR=403813A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25547,76298</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20141110&DB=EPODOC&CC=PL&NR=403813A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>GÓRECKI KRZYSZTOF</creatorcontrib><creatorcontrib>ZAR BSKI JANUSZ</creatorcontrib><creatorcontrib>GÓRECKI PAWE</creatorcontrib><title>Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate</title><description>Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9).</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2014</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqFjLEKwkAQRNNYiPoN7g8IhljYiigWChb2YU02uYPL3rG7Ifj3JsHeYmaK95hlxg8yF2tArkE_atRBEwU6Qu3FcwvmaIp0GEBIvRpyRRCbmbx9igEFUhxIwAR5MsaDwZubDc_aBzSqoR17nS0aDEqb366y7fXyOt92lGJJmrAiJiuf98O-OObFKS_-G1_hoUIl</recordid><startdate>20141110</startdate><enddate>20141110</enddate><creator>GÓRECKI KRZYSZTOF</creator><creator>ZAR BSKI JANUSZ</creator><creator>GÓRECKI PAWE</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20141110</creationdate><title>Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate</title><author>GÓRECKI KRZYSZTOF ; ZAR BSKI JANUSZ ; GÓRECKI PAWE</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_PL403813A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; pol</language><creationdate>2014</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>GÓRECKI KRZYSZTOF</creatorcontrib><creatorcontrib>ZAR BSKI JANUSZ</creatorcontrib><creatorcontrib>GÓRECKI PAWE</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>GÓRECKI KRZYSZTOF</au><au>ZAR BSKI JANUSZ</au><au>GÓRECKI PAWE</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate</title><date>2014-11-10</date><risdate>2014</risdate><abstract>Sposób pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką realizowany w trzech etapach pomiaru charakteryzuje się tym, że w charakterze parametru termoczułego jest wykorzystywane napięcie między wyprowadzeniami bramki i emitera tranzystora. W pierwszym etapie jest wykonywana kalibracja charakterystyki termometrycznej stanowiącej zależność parametru termoczułego od temperatury przy ustalonej wartości prądu kolektora i napięcia między wyprowadzeniami kolektora i emitera tranzystora. W drugim etapie pomiaru tranzystor pracuje w zakresie aktywnym i mierzone są współrzędne trzech punktów pracy tranzystora leżących na liniowym odcinku przy ustalonej zależności napięcia bramka-emiter od napięcia kolektor-emiter przy określonej wartości prądu kolektora. W trzecim etapie pomiaru rezystancja termiczna jest obliczana ze wzoru analitycznego. Układ do pomiaru rezystancji termicznej tranzystora bipolarnego mocy z izolowaną bramką, charakteryzuje się tym, że pierwszy zasilacz napięciowy(1)przez pierwszy rezystor (3) jest połączony z emiterem tranzystora (5) Drugi zasilacz napięciowy (2) szeregowo jest połączony z drugim rezystorem (4) oraz amperomierzem(6) zasilając kolektor tranzystora (5). Bramka tranzystora (5) jest połączona z masą układu, a pierwszy woltomierz (7) jest włączony między emiter a bramkę tranzystora (5), zaś drugi woltomierz (8) jest włączony między kolektor a bramkę tranzystora (5). Badany tranzystor umieszczony jest w termostacie (9).</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; pol |
recordid | cdi_epo_espacenet_PL403813A1 |
source | esp@cenet |
subjects | BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING |
title | Method and system for measuring the thermal resistance of the bipolar power transistor with the insulated gate |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-16T09%3A10%3A32IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=G%C3%93RECKI%20KRZYSZTOF&rft.date=2014-11-10&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EPL403813A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |