Method and system for measuring own and mutual thermal resistances of the LED diode and phototransistor contained in the transoptor

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ZAR BSKI JANUSZ, GORECKI KRZYSZTOF
Format:	Patent
Sprache:	eng ; pol
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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