Method for determining the exact value of the linear dimension of the object and the optical measuring device

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	WIERZBICKI MICHAŁ, JABŁOŃSKI RYSZARD, MĄKOWSKI JERZY, ORZECHOWSKI JAN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; pol
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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