Method of layered structures defects detection and machine used to detect layered structures defects

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BOROWIK ŁUKASZ, TRZCIŃSKI MARCIN, LIPIEC KONRAD, TYKARSKI LEONARD, LATUSZEK ANTONI, ORZECHOWSKI JAN, GRONOWSKA IRENA
Format:	Patent
Sprache:	eng ; pol
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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