SYSTEM AND METHOD TO IMPROVE ACCURACY OF GALVANIC TOOL MEASUREMENTS
A system and method for improving the accuracy of galvanic tool measurements is described. The system (300) may include a survey electrode (A0) and a first monitor electrode ( Mu1') positioned above the survey electrode. A second monitor electrode (M1) may be positioned below the survey electro...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; spa |
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Zusammenfassung: | A system and method for improving the accuracy of galvanic tool measurements is described. The system (300) may include a survey electrode (A0) and a first monitor electrode ( Mu1') positioned above the survey electrode. A second monitor electrode (M1) may be positioned below the survey electrode, and a first conductive wire (307) may couple the first monitor electrode to the second monitor electrode. A first measurement point (302) may be located on the conductive wire, and a first resistive element (Rm1) may be coupled to the conductive wire.
Se describen un sistema y un método para mejorar la precisión de mediciones de herramientas electrolíticas. El sistema puede incluir un electrodo de reconocimiento y un primer electrodo monitor posicionado sobre el electrodo de reconocimiento. Se puede posicionar un segundo electrodo monitor debajo del electrodo de reconocimiento, y un primer alambre conductivo puede acoplar el primer electrodo monitor con el segundo electrodo monitor. Se puede ubicar un primer punto de medición en el alambre conductivo, y se puede acoplar un primer elemento de resistencia al alambre conductivo. |
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