A SENSOR SYSTEM FOR MEASURING NON-CONTACT THICKNESS AND OPTICAL PROPERTIES OF OVERLYING MATERIALS AND LIQUIDS ON MULTILAYER STRUCTURES

The present invention relates to a system for detecting the boundaries between a plurality of stacked or overlying semitransparent materials having micrometric size, or the boundary between different liquid layers, which is based on the measurement of a second, third or a higher reading out of a non-invasive optical reflectometry process. The invention can be used to detect thicknesses ranging from tens of microns to a few millimeters of a semitransparent material. The invention can further determine the optical properties of liquids or detect the presence of pollutants that are altering said optical properties, the refraction index of either liquid or solid transparent or semi-transparent materials also being included as part of the optical characteristics that can be measured. La presente invención consiste en un sistema de detección de fronteras entre varios materiales semitransparentes crecidos o superpuestos de tamaños micrométricos o la frontera existente en diferentes capas de líquidos, el cual se basa en la determinación de una segunda, tercera o mayor lectura de un proceso de reflectometría óptica no invasiva. Puede ser utilizado para detectar grosores que van desde una decenas de micrómetros hasta unos cuantos milímetros de grosor en un material semitransparente. Dicha invención también puede determinar las propiedades ópticas en líquidos o detectar presencia de contaminantes que estén cambiando estas propiedades ópticas y dentro de las características ópticas es posible determinar el índice de refracción de materiales transparentes o semi-transparentes ya sea líquidos o sólidos.