TEST ARRANGEMENTS FOR DETERMINING ELECTRIC INSULATION CHARACTERISTICS

The present invention refers to test arrangements for determining electric insulation characteristics in a differential piezoelectric bioelectric insulator (APD), where said arrangements comprise: a first arrangement or high-voltage arrangement, which is defined from a high-voltage source, a container which inner portion includes silicon oil where an APD is immersed and a high voltage tip connected to a voltage meter; a second arrangement or an electric resistivity arrangement for determining the resistive value of different parts of an APD, which is defined from a Teflon chamber introduced along with the APD in a Faraday cage; a third arrangement or a leakage current arrangement defined from a voltage source , current meter and a resistance for limiting the current and reducing the noise; and a fourth arrangement or a response frequency arrangement integrated from a function generator and an oscilloscope, both connected to an ADP. La presente invención se refiere a unos arreglos de prueba para determinar características de aislamiento eléctrico en un aislador bioeléctrico piezoeléctrico diferencial (APD), en donde dichos arreglos comprenden: un primer arreglo o arreglo para alto voltaje, que se define a partir de una fuente de alto voltaje, un recipiente contenedor en cuyo interior se dispone aceite de silicón en donde se encuentra inmerso un APD y una punta de alto voltaje conectada a un voltímetro; un segundo arreglo o arreglo para resistividad eléctrica que permite determinar el valor resistivo de diferentes partes de un APD, que se define a partir de una cámara de teflón que es introducida junto con el APD en una jaula de Faraday; un tercer arreglo o arreglo para corriente de fuga, que se define a partir de una fuente de voltaje un medidor de corriente y una resistencia para limitar la corriente y además para reducir el ruido; y un cuarto arreglo o arreglo para frecuencia de respuesta, que se integra a partir de un generador de funciones y un osciloscopio, ambos conectados a un ADP.