APPARATUS AND METHOD FOR SIMULTANEOUS THREE-DIMENSIONAL MEASURING OF SURFACES WITH MULTIPLE WAVELENGTHS

The invention relates to an apparatus for the three-dimensional measurement of an object, and comprises a projection system for projecting a pattern onto a surface by means of electromagnetic radiation having at least two different wavelengths or at least two different wavelength ranges; and a detector system for detecting the projected pattern at the at least two different wavelengths or at at least two different respective wavelengths from the at least two different wavelength ranges. The invention further relates to a method for the three-dimensional measurement of an object. La invención se refiera a un aparato para la medición tridimensional de un objeto comprende un sistema de proyección para proyectar un patrón sobre una superficie por medio de radiación electromagnética que tenga por lo menos dos diferentes longitudes de onda o por lo menos dos diferentes intervalos de longitudes de onda; y un sistema detector para detectar el patrón proyectado a las por lo menos dos diferentes longitudes de onda o las por lo menos dos diferentes respectivas longitudes de onda de los por lo menos dos diferentes intervalos de longitudes de onda; la invención se refiere además a un método para la medición tridimensional de un objeto.