레지스트 조성물, 레지스트 패턴 형성 방법, 화합물, 및, 산 발생제

기재 성분 (A) 와, 일반식 (b0) 으로 나타내는 화합물 (B0) 을 포함하는, 레지스트 조성물. TIFFpct00154.tif30128 식 중, Rpg 는, 산 분해성기이다. Rl0 은, 치환기를 가져도 되는 고리형의 유기기이다. L02 는, 2 가의 연결기이다. L01 은, 2 가의 연결기 또는 단결합이다. Rm1 은, 요오드 원자 이외의 치환기이다. Vb0 은, 단결합 등이다. R0 은, 수소 원자 등이다. nb1 은 1 ∼ 4 의 정수이고, nb2 는 1 ∼ 4 의 정수이고, nb3 은, 0 ∼ 3 의 정수이다. Mm+...

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1. Verfasser: NGUYEN KHANHTIN
Format: Patent
Sprache:kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:기재 성분 (A) 와, 일반식 (b0) 으로 나타내는 화합물 (B0) 을 포함하는, 레지스트 조성물. TIFFpct00154.tif30128 식 중, Rpg 는, 산 분해성기이다. Rl0 은, 치환기를 가져도 되는 고리형의 유기기이다. L02 는, 2 가의 연결기이다. L01 은, 2 가의 연결기 또는 단결합이다. Rm1 은, 요오드 원자 이외의 치환기이다. Vb0 은, 단결합 등이다. R0 은, 수소 원자 등이다. nb1 은 1 ∼ 4 의 정수이고, nb2 는 1 ∼ 4 의 정수이고, nb3 은, 0 ∼ 3 의 정수이다. Mm+ 는, m 가의 유기 카티온을 나타낸다. m 은 1 이상의 정수이다. The present invention provides a resist composition which contains a base material component (A) and a compound (B0) that is represented by general formula (b0). In the formula, Rpg represents an acid-decomposable group; Rl0 represents an optionally substituted cyclic organic group; L02 represents a divalent linking group; L01 represents a divalent linking group or a single bond; Rm1 represents a substituent other than an iodine atom; Vb0 represents a single bond or the like; R0 represents a hydrogen atom or the like; nb1 represents an integer of 1 to 4, nb2 represents an integer of 1 to 4, and nb3 represents an integer of 0 to 3; Mm+ represents an organic cation having a valency of m; and m represents an integer of 1 or more.