TEST SOCKET FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS
본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 전자부품을 이동시키기 위한 적재테이블 및 픽킹유닛 등을 2개씩 구비하고, 제1 영역과 제2 영역으로 나누어서 적재테이블 및 픽킹유닛의 동작 영역을 분리시키되, 픽커핸드는 공유하는 구성을 가지며, 픽킹유닛에 카메라를 설치하는 구성을 가진다. 본 발명에 따르면 함께 테스트될 전자부품의 개수가 증가하더라도 카메라의 증가 및 장비의 비대화는 최소화시킬 수 있는 효과가 있다. The present invention relates to a handl...
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| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; kor |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
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| Zusammenfassung: | 본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 전자부품을 이동시키기 위한 적재테이블 및 픽킹유닛 등을 2개씩 구비하고, 제1 영역과 제2 영역으로 나누어서 적재테이블 및 픽킹유닛의 동작 영역을 분리시키되, 픽커핸드는 공유하는 구성을 가지며, 픽킹유닛에 카메라를 설치하는 구성을 가진다. 본 발명에 따르면 함께 테스트될 전자부품의 개수가 증가하더라도 카메라의 증가 및 장비의 비대화는 최소화시킬 수 있는 효과가 있다.
The present invention relates to a handler for testing electronic components. The handler for testing electronic components according to the present invention includes two loading tables and two picking units for moving electronic components, and divides the operation areas of the loading tables and two picking units into a first area and a second area. The picker hand has a shared configuration, and the camera is installed in the picking unit. According to the present invention, even if the number of electronic components to be tested increases, the number of cameras and enlargement of equipment can be minimized. |
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