transmission electron microscope

일부 실시예들에 따른 투과전자현미경은, 시료 챔버; 상기 시료 챔버의 측벽으로부터 외측으로 연장된 열교환 브릿지; 및 상기 열교환 브릿지의 제1 부분을 둘러싸는 열교환 튜브, 및 상기 열교환 브릿지의 상기 제1 부분과 상기 열교환 튜브를 외부로부터 밀폐하도록 구성된 하우징을 포함하는 열교환 커넥터;를 포함할 수 있다....

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	JUNG JAE RYONG, CHO JAE SUN, JUNG YOON SANG, YEOM SEON UNG, MOON DAE SUNG, KIM YOUNG JUN, HYUN SUN IL, LEE JI HYUN, LIM YE WON
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRICITY
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Beschreibung
Zusammenfassung:	일부 실시예들에 따른 투과전자현미경은, 시료 챔버; 상기 시료 챔버의 측벽으로부터 외측으로 연장된 열교환 브릿지; 및 상기 열교환 브릿지의 제1 부분을 둘러싸는 열교환 튜브, 및 상기 열교환 브릿지의 상기 제1 부분과 상기 열교환 튜브를 외부로부터 밀폐하도록 구성된 하우징을 포함하는 열교환 커넥터;를 포함할 수 있다.