광학 필름의 평가 방법
광학 필름의 광학축을 정확하게 평가한다. 본 발명의 실시형태에 따른 평가 방법은, 광학 필름의 평가 방법으로서, 외주에 직선부를 포함하는 기판 위에, 상기 광학 필름을 배치하는 것과, 상기 기판의 상기 직선부를 기준으로 하여, 상기 광학 필름의 광학축을 측정하는 것과, 상기 기판과 상기 광학 필름의 위치 관계에 기초하여, 상기 측정 결과를 보정하는 것을 포함한다. The present invention accurately assesses the optical axis of an optical film. An assessment me...
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| Format: | Patent |
| Sprache: | kor |
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| Zusammenfassung: | 광학 필름의 광학축을 정확하게 평가한다. 본 발명의 실시형태에 따른 평가 방법은, 광학 필름의 평가 방법으로서, 외주에 직선부를 포함하는 기판 위에, 상기 광학 필름을 배치하는 것과, 상기 기판의 상기 직선부를 기준으로 하여, 상기 광학 필름의 광학축을 측정하는 것과, 상기 기판과 상기 광학 필름의 위치 관계에 기초하여, 상기 측정 결과를 보정하는 것을 포함한다.
The present invention accurately assesses the optical axis of an optical film. An assessment method according to an embodiment of the present invention is an optical film assessment method comprising: disposing an optical film on a substrate that has a straight line portion on the outer periphery thereof; measuring the optical axis of the optical film using the straight line portion of the substrate as a reference; and correcting the measurement result on the basis of the positional relation between the substrate and the optical film. |
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