스펙트럼 성형 X-선 광학장치 및 스펙트럼 필터 애퍼처 디바이스를 포함하는, X-선 이미징을 위한, X-선 조사 장치

X-선 조사 장치(100)는 다색 X-선(2)을 생성하기 위한 X-선 소스 디바이스(110)와 종 방향 빔 축(3)을 갖는 X-선 광학 디바이스(120)를 포함하는데, 여기서, X-선 광학 디바이스(120)는 반사체 기하학적 구조, 반사체 모자이크성 및 반사체 두께를 갖는 다결정 반사체 장치(121)를 포함하고, X-선 광학 디바이스(120)는 X-선 광학 디바이스(120)의 수용 각도 내에서 X-선(2)의 일부를 수용하고, 브래그 반사에 의해 X-선 빔(4)을 생성하도록 배열되는데, 이는 빔 축(3)을 따라 그 초점 위치를 향하고...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KORNIG CHRISTIAN, SCHLESIGER CHRISTOPHER PHILIP, SCHMUTZLER OLIVER, GRUNER FLORIAN, STAUFER THERESA, BAUMANN JONAS
Format:	Patent
Sprache:	kor
Schlagworte:	DIAGNOSIS GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES HUMAN NECESSITIES HYGIENE IDENTIFICATION INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES IRRADIATION DEVICES MEASURING MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE NUCLEAR ENGINEERING NUCLEAR PHYSICS PHYSICS SURGERY TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOTOTHERWISE PROVIDED FOR TESTING
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