스펙트럼 성형 X-선 광학장치 및 스펙트럼 필터 애퍼처 디바이스를 포함하는, X-선 이미징을 위한, X-선 조사 장치
X-선 조사 장치(100)는 다색 X-선(2)을 생성하기 위한 X-선 소스 디바이스(110)와 종 방향 빔 축(3)을 갖는 X-선 광학 디바이스(120)를 포함하는데, 여기서, X-선 광학 디바이스(120)는 반사체 기하학적 구조, 반사체 모자이크성 및 반사체 두께를 갖는 다결정 반사체 장치(121)를 포함하고, X-선 광학 디바이스(120)는 X-선 광학 디바이스(120)의 수용 각도 내에서 X-선(2)의 일부를 수용하고, 브래그 반사에 의해 X-선 빔(4)을 생성하도록 배열되는데, 이는 빔 축(3)을 따라 그 초점 위치를 향하고...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | X-선 조사 장치(100)는 다색 X-선(2)을 생성하기 위한 X-선 소스 디바이스(110)와 종 방향 빔 축(3)을 갖는 X-선 광학 디바이스(120)를 포함하는데, 여기서, X-선 광학 디바이스(120)는 반사체 기하학적 구조, 반사체 모자이크성 및 반사체 두께를 갖는 다결정 반사체 장치(121)를 포함하고, X-선 광학 디바이스(120)는 X-선 광학 디바이스(120)의 수용 각도 내에서 X-선(2)의 일부를 수용하고, 브래그 반사에 의해 X-선 빔(4)을 생성하도록 배열되는데, 이는 빔 축(3)을 따라 그 초점 위치를 향하고 X-선(2)의 다색 스펙트럼, 반사체 기하학적 구조, 반사체 모자이크성 및 반사체 두께에 의해 결정되는 스펙트럼 분포를 갖는데, 여기서, 반사된 X-선 빔(4)의 스펙트럼 분포의 제 1 스펙트럼 부분(4A)를 전송하고, 이 스펙트럼 분포의 제 2 및 제 3 스펙트럼 부분(4B, 4C)을 차단하는 필터 갭(123)을 생성하기 위하여 스펙트럼 필터 애퍼처 디바이스(122)는 X-선 광학 디바이스(120)로부터 하류에 배열되며, 제 1 스펙트럼 부분(4A)은 제 2 스펙트럼 부분(4B)보다 높은 에너지를 갖고, 제 3 스펙트럼 부분(4C)보다 낮은 에너지를 갖으며, X-선 광학 디바이스(120)는 적어도 100 마이크로-스테라디안의 수용 입체각를 갖고, 반사체 기하학적 구조, 반사체 모자이크성, 반사체 두께 및 다결정 반사체 장치(121)의 수용 각도는, 동시에 제 1 스펙트럼 부분(4A) 내의 방사선 플럭스가 적어도 1%의 피크 반사율을 갖는 X-선(2)에 의해 수신되는 동일한 스펙트럼 부분의 유입 플럭스의 적어도 1% 이고, 제 1 스펙트럼 부분(4A)은 최대 15%의 스펙트럼 대역폭을 가지며, 제 2 및 제 3 스펙트럼 부분(4B, 4C)은 제 1 스펙트럼 부분(4A) 내의 플럭스에 비해 최소 세 자릿수 감소된 플럭스를 가지며, X-선 빔(4)은 1.5mm 미만의 촛점 크기를 갖도록, 선택된다. 뿐만 아니라, X-선 형광 이미징 장치(200) 및 X-선 조사 장치(100)의 사용 방법에 대해 기술된다.
An X-ray irradiation apparatus (100) comprises an X-ray source device (110) for creating X-rays (2) with a polychromatic spectrum and an X-ray optic device (120) with a beam axis (3) that is longitudinal, wherein the X-ray optic device (120) comprises a reflector device (121) that is polycrystalline having a reflector geometry, a reflector mosaicity and a reflector thickness and the reflector device (121) is arranged for receiving a portion of the X-rays (2) within an acceptance angle of the reflector device (121) and for creating an X-ray beam (4) by Bragg reflection, which is directed along the beam axis (3) towards a focal position thereof and has a spectral distribution determined by the polychromatic spectrum of the X-rays (2), the reflector geometry, the reflector mosaicity and the reflector thickness, and wherein the X-ray optic device (120) further comprises a spectral filter aperture device (122) that is arranged downstream from the reflector device (121) for creating a filter gap (123) transmitting a first spectral portion (4A) of the spectral distribution of the X-ray beam (4) and blocking a second spectral portion (4B) and a third spectral portion (4C) of this spectral distribution, wherein the first spectral portion (4A) has higher energies than the second spectral portion (4B) and lower energies than the third spectral portion (4C), wherein the reflector device (121) has an acceptance solid-angle of at least 100 micro-ste |
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