APPEARANCE INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE OF LONG OPTICAL LAYERED BODY

[과제] 헤이즈가 작은 장척상의 반사 방지층과, 반사 방지층에 소정 패턴으로 형성된 헤이즈가 큰 안티글레어층과, 안티글레어층의 소정 위치에 형성된 비안티글레어부를 갖는 장척상의 광학 적층체의 외관을 바람직하게 검사하는 방법을 제공하는 것. [해결 수단] 본 발명의 실시형태에 의한 광학 적층체의 검사 방법은 상기 장척상의 광학 적층체를 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과; 화상 데이터로부터 상기 안티글레어층의 단부를 검출하는 공정과; 단부로부터 내측의 소정 거리에 경계를 설정하고, 상기 경계의 내측을 검사 영역 및 상기 경계의 외...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	MOCHIZUKI MASAKAZU, NAKAJIMA NATSUMI, SUGIWAKI TADAAKI
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	[과제] 헤이즈가 작은 장척상의 반사 방지층과, 반사 방지층에 소정 패턴으로 형성된 헤이즈가 큰 안티글레어층과, 안티글레어층의 소정 위치에 형성된 비안티글레어부를 갖는 장척상의 광학 적층체의 외관을 바람직하게 검사하는 방법을 제공하는 것. [해결 수단] 본 발명의 실시형태에 의한 광학 적층체의 검사 방법은 상기 장척상의 광학 적층체를 촬상하여 화상 데이터를 취득하는 공정과; 화상 데이터로부터 상기 안티글레어층의 단부를 검출하는 공정과; 단부로부터 내측의 소정 거리에 경계를 설정하고, 상기 경계의 내측을 검사 영역 및 상기 경계의 외측을 비검사 영역으로 설정하는 공정과; 화상 데이터를 해석하여 검사 영역에 있어서의 결함 후보부를 추출하는 공정과; 결함 후보부가 기준값 이하의 사이즈를 갖는지의 여부를 판단하는 공정과; 결함 후보부의 사이즈에 근거하여 결함을 검출하는 공정; 을 포함한다.