Temperature measuring system using thermal imaging camera and control method of the same

본 발명은, 열화상 카메라를 이용한 온도 측정 시스템 및 이의 제어 방법에 있어서, 실화상 카메라, 상기 실화상 카메라의 검출 결과에 대하여 측정 대상에 구비되는 구성 요소를 구분하고 이를 객체화하는 사물 인식부 및 상기 객체화된 구성 요소와 이에 대응되는 방사율을 매치(match)시키는 방사율 매칭부를 포함하는, 온도 측정 시스템 및 이의 제어 방법을 개시한다. 이에 따라, 측정 대상에 구비되는 구성 요소별 다양한 표면 방사율이 고려될 수 있고, 온도 측정 오차가 보다 감소될 수 있다....

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	KWON HYUN HO, KANG GWANG GOO, SEO YEOUNG DUK, JI YONG JIN, JIN CHANG HWAN, LEE JIN HO
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	CALCULATING COLORIMETRY COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS COMPUTING COUNTING MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT MEASURING PHYSICS RADIATION PYROMETRY TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 발명은, 열화상 카메라를 이용한 온도 측정 시스템 및 이의 제어 방법에 있어서, 실화상 카메라, 상기 실화상 카메라의 검출 결과에 대하여 측정 대상에 구비되는 구성 요소를 구분하고 이를 객체화하는 사물 인식부 및 상기 객체화된 구성 요소와 이에 대응되는 방사율을 매치(match)시키는 방사율 매칭부를 포함하는, 온도 측정 시스템 및 이의 제어 방법을 개시한다. 이에 따라, 측정 대상에 구비되는 구성 요소별 다양한 표면 방사율이 고려될 수 있고, 온도 측정 오차가 보다 감소될 수 있다.