INTEGRATED CIRCUIT DEVICES AND MANUFACTURING METHODS FOR THE SAME
본 발명의 기술적 사상은 복수의 활성 영역을 가지는 기판; 상기 기판 상에서 수평 방향으로 연장된 비트 라인; 상기 비트 라인의 수직 방향에 배치되는 절연 캡핑 패턴; 상기 기판 상에 형성된 다이렉트 콘택홀에 배치되어, 상기 복수의 활성 영역 중에서 선택되는 제1 활성 영역과 상기 비트 라인 사이에 연결된 다이렉트 콘택; 및 상기 다이렉트 콘택의 측벽 및 상기 비트 라인의 측벽에 접하는 스페이서 구조물을 포함하되, 상기 스페이서 구조물은, 상기 다이렉트 콘택의 측벽 및 상기 비트 라인의 측벽 위에서 수직 방향으로 연장되는 제1 스페...
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Format: | Patent |
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creator | PARK KYUNG WOOK BAN YOU MIN SEO CHANG WOO SONG SU YOUN KANG YOON GOO SHIM HYUN CHUL |
description | 본 발명의 기술적 사상은 복수의 활성 영역을 가지는 기판; 상기 기판 상에서 수평 방향으로 연장된 비트 라인; 상기 비트 라인의 수직 방향에 배치되는 절연 캡핑 패턴; 상기 기판 상에 형성된 다이렉트 콘택홀에 배치되어, 상기 복수의 활성 영역 중에서 선택되는 제1 활성 영역과 상기 비트 라인 사이에 연결된 다이렉트 콘택; 및 상기 다이렉트 콘택의 측벽 및 상기 비트 라인의 측벽에 접하는 스페이서 구조물을 포함하되, 상기 스페이서 구조물은, 상기 다이렉트 콘택의 측벽 및 상기 비트 라인의 측벽 위에서 수직 방향으로 연장되는 제1 스페이서층; 및 상기 제1 스페이서층의 적어도 일부를 덮으며 수직 방향으로 연장되는 제2 스페이서층을 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 소자를 제공한다.
An integrated circuit device includes a substrate having a plurality of active regions, a bit line extending in a horizontal direction on the substrate, an insulating capping pattern formed on the bit line and extending along the bit line, a direct contact disposed in a direct contact hole formed on the substrate and connected between a first active region selected from among the plurality of active regions and the bit line, and a spacer structure contacting a sidewall of the direct contact and a sidewall of the bit line The spacer structure includes a first spacer layer extending in a vertical direction on the sidewall of the direct contact and the sidewall of the bit line, and a second spacer layer covering at least a portion of the first spacer layer and extending in the vertical direction. |
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An integrated circuit device includes a substrate having a plurality of active regions, a bit line extending in a horizontal direction on the substrate, an insulating capping pattern formed on the bit line and extending along the bit line, a direct contact disposed in a direct contact hole formed on the substrate and connected between a first active region selected from among the plurality of active regions and the bit line, and a spacer structure contacting a sidewall of the direct contact and a sidewall of the bit line The spacer structure includes a first spacer layer extending in a vertical direction on the sidewall of the direct contact and the sidewall of the bit line, and a second spacer layer covering at least a portion of the first spacer layer and extending in the vertical direction.</description><language>eng ; kor</language><subject>ELECTRICITY</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240913&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240136072A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76293</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240913&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240136072A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>PARK KYUNG WOOK</creatorcontrib><creatorcontrib>BAN YOU MIN</creatorcontrib><creatorcontrib>SEO CHANG WOO</creatorcontrib><creatorcontrib>SONG SU YOUN</creatorcontrib><creatorcontrib>KANG YOON GOO</creatorcontrib><creatorcontrib>SHIM HYUN CHUL</creatorcontrib><title>INTEGRATED CIRCUIT DEVICES AND MANUFACTURING METHODS FOR THE SAME</title><description>본 발명의 기술적 사상은 복수의 활성 영역을 가지는 기판; 상기 기판 상에서 수평 방향으로 연장된 비트 라인; 상기 비트 라인의 수직 방향에 배치되는 절연 캡핑 패턴; 상기 기판 상에 형성된 다이렉트 콘택홀에 배치되어, 상기 복수의 활성 영역 중에서 선택되는 제1 활성 영역과 상기 비트 라인 사이에 연결된 다이렉트 콘택; 및 상기 다이렉트 콘택의 측벽 및 상기 비트 라인의 측벽에 접하는 스페이서 구조물을 포함하되, 상기 스페이서 구조물은, 상기 다이렉트 콘택의 측벽 및 상기 비트 라인의 측벽 위에서 수직 방향으로 연장되는 제1 스페이서층; 및 상기 제1 스페이서층의 적어도 일부를 덮으며 수직 방향으로 연장되는 제2 스페이서층을 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 소자를 제공한다.
An integrated circuit device includes a substrate having a plurality of active regions, a bit line extending in a horizontal direction on the substrate, an insulating capping pattern formed on the bit line and extending along the bit line, a direct contact disposed in a direct contact hole formed on the substrate and connected between a first active region selected from among the plurality of active regions and the bit line, and a spacer structure contacting a sidewall of the direct contact and a sidewall of the bit line The spacer structure includes a first spacer layer extending in a vertical direction on the sidewall of the direct contact and the sidewall of the bit line, and a second spacer layer covering at least a portion of the first spacer layer and extending in the vertical direction.</description><subject>ELECTRICITY</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNyrEKwjAQANAsDqL-w4GzEFPR-UguTZCkcLm4liJxEi3U_8fFD3B6y1srjFmoZxRyYCPbGgUc3aKlApgdJMzVo5XKMfeQSMLgCviBQQJBwURbtXpMz6Xtfm7U3pPYcGjze2zLPN3bq33GKxttTvrYnfXFYPff-gJ1rCug</recordid><startdate>20240913</startdate><enddate>20240913</enddate><creator>PARK KYUNG WOOK</creator><creator>BAN YOU MIN</creator><creator>SEO CHANG WOO</creator><creator>SONG SU YOUN</creator><creator>KANG YOON GOO</creator><creator>SHIM HYUN CHUL</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240913</creationdate><title>INTEGRATED CIRCUIT DEVICES AND MANUFACTURING METHODS FOR THE SAME</title><author>PARK KYUNG WOOK ; BAN YOU MIN ; SEO CHANG WOO ; SONG SU YOUN ; KANG YOON GOO ; SHIM HYUN CHUL</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20240136072A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2024</creationdate><topic>ELECTRICITY</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>PARK KYUNG WOOK</creatorcontrib><creatorcontrib>BAN YOU MIN</creatorcontrib><creatorcontrib>SEO CHANG WOO</creatorcontrib><creatorcontrib>SONG SU YOUN</creatorcontrib><creatorcontrib>KANG YOON GOO</creatorcontrib><creatorcontrib>SHIM HYUN CHUL</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>PARK KYUNG WOOK</au><au>BAN YOU MIN</au><au>SEO CHANG WOO</au><au>SONG SU YOUN</au><au>KANG YOON GOO</au><au>SHIM HYUN CHUL</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>INTEGRATED CIRCUIT DEVICES AND MANUFACTURING METHODS FOR THE SAME</title><date>2024-09-13</date><risdate>2024</risdate><abstract>본 발명의 기술적 사상은 복수의 활성 영역을 가지는 기판; 상기 기판 상에서 수평 방향으로 연장된 비트 라인; 상기 비트 라인의 수직 방향에 배치되는 절연 캡핑 패턴; 상기 기판 상에 형성된 다이렉트 콘택홀에 배치되어, 상기 복수의 활성 영역 중에서 선택되는 제1 활성 영역과 상기 비트 라인 사이에 연결된 다이렉트 콘택; 및 상기 다이렉트 콘택의 측벽 및 상기 비트 라인의 측벽에 접하는 스페이서 구조물을 포함하되, 상기 스페이서 구조물은, 상기 다이렉트 콘택의 측벽 및 상기 비트 라인의 측벽 위에서 수직 방향으로 연장되는 제1 스페이서층; 및 상기 제1 스페이서층의 적어도 일부를 덮으며 수직 방향으로 연장되는 제2 스페이서층을 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 소자를 제공한다.
An integrated circuit device includes a substrate having a plurality of active regions, a bit line extending in a horizontal direction on the substrate, an insulating capping pattern formed on the bit line and extending along the bit line, a direct contact disposed in a direct contact hole formed on the substrate and connected between a first active region selected from among the plurality of active regions and the bit line, and a spacer structure contacting a sidewall of the direct contact and a sidewall of the bit line The spacer structure includes a first spacer layer extending in a vertical direction on the sidewall of the direct contact and the sidewall of the bit line, and a second spacer layer covering at least a portion of the first spacer layer and extending in the vertical direction.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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