HANDLER FOR ELECTRIC DEVICE TEST

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 전자부품을 테스터의 테스트소켓에 전기적으로 연결시키기 위해 전자부품을 가압하는 가압부를 구성하는 푸셔가 냉각유체가 지나가는 유체통과로를 가지는 푸싱부재와 푸싱부재에 열을 가하기 위해 마련되는 적어도 하나의 히터; 를 포함한다. 본 발명에 따르면 냉각유체와 히터에 의해 전자부품의 테스트에서 요구되는 온도를 유지시킬 수 있기 때문에 테스트의 신뢰성이 향상된다. The present invention relates to a handler for...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	NA, YUN SUNG, SUNG KI JOO, SHIM KI YOUNG
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!