HANDLER FOR ELECTRIC DEVICE TEST

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 전자부품을 테스터의 테스트소켓에 전기적으로 연결시키기 위해 전자부품을 가압하는 가압부를 구성하는 푸셔가 냉각유체가 지나가는 유체통과로를 가지는 푸싱부재와 푸싱부재에 열을 가하기 위해 마련되는 적어도 하나의 히터; 를 포함한다. 본 발명에 따르면 냉각유체와 히터에 의해 전자부품의 테스트에서 요구되는 온도를 유지시킬 수 있기 때문에 테스트의 신뢰성이 향상된다. The present invention relates to a handler for electronic component testing. The handler for electronic component testing includes a pusher including a pressurizing unit pressurizing electronic components to be electronically connected to a test socket of a tester. The pusher includes a pushing member having a fluid passage through which the cooling fluid passes, and at least one heater provided to apply heat to the pushing member. According to the present invention, the reliability of testing is improved because the temperature required for testing electronic components can be maintained using a cooling fluid and a heater.