Inspection Vision System

본 발명은 피검사물이 대칭되는 형상을 가지지 않는 경우에도 면을 구분하여 정확하게 검사할 수 있는 검사 비전 시스템을 제공하는 것으로, 일실시예에서 제 1 면과 상기 제 1 면에 대하여 두께 방향 반대면이며 돌출부를 포함하는 제 2 면을 포함하는 각형의 피검사물을 검사하는 검사 비전 시스템으로, 상기 피검사물을 정렬하여 제 1 검사부로 공급하는 공급부; 상기 공급부에서 공급된 상기 피검사물을 이동시키면서 검사하는 제 1 검사부; 상기 제 1 검사부의 피검사물을 받아 반전시키는 반전부; 및 상기 반전부로부터 상기 검사물을 받아서 이동...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: LEE KYU HUN
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:본 발명은 피검사물이 대칭되는 형상을 가지지 않는 경우에도 면을 구분하여 정확하게 검사할 수 있는 검사 비전 시스템을 제공하는 것으로, 일실시예에서 제 1 면과 상기 제 1 면에 대하여 두께 방향 반대면이며 돌출부를 포함하는 제 2 면을 포함하는 각형의 피검사물을 검사하는 검사 비전 시스템으로, 상기 피검사물을 정렬하여 제 1 검사부로 공급하는 공급부; 상기 공급부에서 공급된 상기 피검사물을 이동시키면서 검사하는 제 1 검사부; 상기 제 1 검사부의 피검사물을 받아 반전시키는 반전부; 및 상기 반전부로부터 상기 검사물을 받아서 이동시키면서 검사하는 제 2 검사부를 포함하며, 상기 공급부는 상기 제 1 면이 위쪽으로 피검사물을 정렬하여 공급하며, 상기 제 1 검사부는 투명 재질의 제 1 턴테이블과 상기 제 1 턴테이블의 상측 및 하측에 배치되는 복수의 광원 및 카메라를 포함하며, 상기 제 2 검사부는 투명 재질의 제 2 턴테이블과 상기 제 2 턴테이블의 상측 및 하측 중 적어도 일측에 배치되는 복수의 광원 및 카메라를 포함하는 검사 비전 시스템을 제공한다.