TEST CIRCUIT AND RECEIVING CIRCUIT WITH TEST FUNCTION
본 기술은 복수의 발진 인에이블 신호들에 응답하여 복수의 발진 신호 쌍들을 생성하도록 구성된 복수의 복제 리시버들; 및 테스트 인에이블 신호에 응답하여 상기 복수의 발진 인에이블 신호들을 생성하고, 상기 복수의 발진 신호 쌍들 중에서 어느 하나의 쌍에 응답하여 검출 신호를 생성하도록 구성된 발진 제어 회로를 포함할 수 있다. A test circuit may include: a plurality of replication receivers configured to generate a plurality of oscillation si...
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; kor |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | DAE HAN KWON GI MOON HONG |
| description | 본 기술은 복수의 발진 인에이블 신호들에 응답하여 복수의 발진 신호 쌍들을 생성하도록 구성된 복수의 복제 리시버들; 및 테스트 인에이블 신호에 응답하여 상기 복수의 발진 인에이블 신호들을 생성하고, 상기 복수의 발진 신호 쌍들 중에서 어느 하나의 쌍에 응답하여 검출 신호를 생성하도록 구성된 발진 제어 회로를 포함할 수 있다.
A test circuit may include: a plurality of replication receivers configured to generate a plurality of oscillation signal pairs in response to a plurality of oscillation enable signals; and an oscillation control circuit configured to generate the plurality of oscillation enable signals in response to a test enable signal, and to generate a detection signal in response to any one of the plurality of oscillation signal pairs. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20240114961A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20240114961A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20240114961A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZDANcQ0OUXD2DHIO9QxRcPRzUQhydXb1DPP0c4eLhnuGeCiA1bmF-jmHePr78TCwpiXmFKfyQmluBmU31xBnD93Ugvz41OKCxOTUvNSSeO8gIwMjEwNDQxNLM0NHY-JUAQCNWyiL</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>TEST CIRCUIT AND RECEIVING CIRCUIT WITH TEST FUNCTION</title><source>esp@cenet</source><creator>DAE HAN KWON ; GI MOON HONG</creator><creatorcontrib>DAE HAN KWON ; GI MOON HONG</creatorcontrib><description>본 기술은 복수의 발진 인에이블 신호들에 응답하여 복수의 발진 신호 쌍들을 생성하도록 구성된 복수의 복제 리시버들; 및 테스트 인에이블 신호에 응답하여 상기 복수의 발진 인에이블 신호들을 생성하고, 상기 복수의 발진 신호 쌍들 중에서 어느 하나의 쌍에 응답하여 검출 신호를 생성하도록 구성된 발진 제어 회로를 포함할 수 있다.
A test circuit may include: a plurality of replication receivers configured to generate a plurality of oscillation signal pairs in response to a plurality of oscillation enable signals; and an oscillation control circuit configured to generate the plurality of oscillation enable signals in response to a test enable signal, and to generate a detection signal in response to any one of the plurality of oscillation signal pairs.</description><language>eng ; kor</language><subject>INFORMATION STORAGE ; PHYSICS ; STATIC STORES</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240725&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240114961A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240725&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240114961A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>DAE HAN KWON</creatorcontrib><creatorcontrib>GI MOON HONG</creatorcontrib><title>TEST CIRCUIT AND RECEIVING CIRCUIT WITH TEST FUNCTION</title><description>본 기술은 복수의 발진 인에이블 신호들에 응답하여 복수의 발진 신호 쌍들을 생성하도록 구성된 복수의 복제 리시버들; 및 테스트 인에이블 신호에 응답하여 상기 복수의 발진 인에이블 신호들을 생성하고, 상기 복수의 발진 신호 쌍들 중에서 어느 하나의 쌍에 응답하여 검출 신호를 생성하도록 구성된 발진 제어 회로를 포함할 수 있다.
A test circuit may include: a plurality of replication receivers configured to generate a plurality of oscillation signal pairs in response to a plurality of oscillation enable signals; and an oscillation control circuit configured to generate the plurality of oscillation enable signals in response to a test enable signal, and to generate a detection signal in response to any one of the plurality of oscillation signal pairs.</description><subject>INFORMATION STORAGE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>STATIC STORES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDANcQ0OUXD2DHIO9QxRcPRzUQhydXb1DPP0c4eLhnuGeCiA1bmF-jmHePr78TCwpiXmFKfyQmluBmU31xBnD93Ugvz41OKCxOTUvNSSeO8gIwMjEwNDQxNLM0NHY-JUAQCNWyiL</recordid><startdate>20240725</startdate><enddate>20240725</enddate><creator>DAE HAN KWON</creator><creator>GI MOON HONG</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240725</creationdate><title>TEST CIRCUIT AND RECEIVING CIRCUIT WITH TEST FUNCTION</title><author>DAE HAN KWON ; GI MOON HONG</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20240114961A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2024</creationdate><topic>INFORMATION STORAGE</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>STATIC STORES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>DAE HAN KWON</creatorcontrib><creatorcontrib>GI MOON HONG</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>DAE HAN KWON</au><au>GI MOON HONG</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>TEST CIRCUIT AND RECEIVING CIRCUIT WITH TEST FUNCTION</title><date>2024-07-25</date><risdate>2024</risdate><abstract>본 기술은 복수의 발진 인에이블 신호들에 응답하여 복수의 발진 신호 쌍들을 생성하도록 구성된 복수의 복제 리시버들; 및 테스트 인에이블 신호에 응답하여 상기 복수의 발진 인에이블 신호들을 생성하고, 상기 복수의 발진 신호 쌍들 중에서 어느 하나의 쌍에 응답하여 검출 신호를 생성하도록 구성된 발진 제어 회로를 포함할 수 있다.
A test circuit may include: a plurality of replication receivers configured to generate a plurality of oscillation signal pairs in response to a plurality of oscillation enable signals; and an oscillation control circuit configured to generate the plurality of oscillation enable signals in response to a test enable signal, and to generate a detection signal in response to any one of the plurality of oscillation signal pairs.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | eng ; kor |
| recordid | cdi_epo_espacenet_KR20240114961A |
| source | esp@cenet |
| subjects | INFORMATION STORAGE PHYSICS STATIC STORES |
| title | TEST CIRCUIT AND RECEIVING CIRCUIT WITH TEST FUNCTION |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-12T11%3A02%3A15IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=DAE%20HAN%20KWON&rft.date=2024-07-25&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20240114961A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |