TEST CIRCUIT AND RECEIVING CIRCUIT WITH TEST FUNCTION

본 기술은 복수의 발진 인에이블 신호들에 응답하여 복수의 발진 신호 쌍들을 생성하도록 구성된 복수의 복제 리시버들; 및 테스트 인에이블 신호에 응답하여 상기 복수의 발진 인에이블 신호들을 생성하고, 상기 복수의 발진 신호 쌍들 중에서 어느 하나의 쌍에 응답하여 검출 신호를 생성하도록 구성된 발진 제어 회로를 포함할 수 있다. A test circuit may include: a plurality of replication receivers configured to generate a plurality of oscillation signal pairs in response to a plurality of oscillation enable signals; and an oscillation control circuit configured to generate the plurality of oscillation enable signals in response to a test enable signal, and to generate a detection signal in response to any one of the plurality of oscillation signal pairs.