SYSTEM OF CONTROLLING THICKNESS OF ELECTRODE

본 발명은 전지의 전극에 관한 것으로서, 구체적으로는, 전극의 두께 제어에 관한 것이다. 본 발명의 일부 실시형태에 따르면, 전극의 두께 제어시스템은 연속적으로 공급되는 전극 파우더를 수용하여 필름 형태의 전극 시트로 가압하도록 구성되는 제1 프레스; 상기 제1 프레스의 하류에 배치되어 상기 전극 시트가 유입되고 유입된 상기 전극 시트를 가압하도록 구성되는 제2 프레스; 상기 제2 프레스의 하류에 배치되어 상기 전극 시트의 두께를 실시간으로 측정하도록 구성되는 측정장치; 및 상기 측정장치에 의해 측정된 두께 정보에 기반하여 상기 제...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SONG HAN NAH, PARK CHAN BUM
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:본 발명은 전지의 전극에 관한 것으로서, 구체적으로는, 전극의 두께 제어에 관한 것이다. 본 발명의 일부 실시형태에 따르면, 전극의 두께 제어시스템은 연속적으로 공급되는 전극 파우더를 수용하여 필름 형태의 전극 시트로 가압하도록 구성되는 제1 프레스; 상기 제1 프레스의 하류에 배치되어 상기 전극 시트가 유입되고 유입된 상기 전극 시트를 가압하도록 구성되는 제2 프레스; 상기 제2 프레스의 하류에 배치되어 상기 전극 시트의 두께를 실시간으로 측정하도록 구성되는 측정장치; 및 상기 측정장치에 의해 측정된 두께 정보에 기반하여 상기 제1 프레스의 가동 조건 또는 제2 프레스의 가동 조건을 변경하도록 구성되는 제어기를 포함한다. A system for controlling a thickness of an electrode includes a first press configured to accommodate an electrode powder consecutively supplied and press the electrode powder into an electrode sheet in the form of a film, a second press disposed downstream of the first press and configured to receive the electrode sheet and press the received electrode sheet, a measuring device disposed downstream of the second press and configured to measure a thickness of the electrode sheet in real time, and a controller configured to change an operating condition of the first press or an operating condition of the second press based on thickness information measured by the measuring device.