Device and method for measuring oxidation degree

실시 예에 따른 산화도 측정 장치는 검사 대상물로 빛을 제공하는 광원부; 상기 검사 대상물로부터 반사 또는 산란되는 빛을 수신하는 수광부; 및 상기 수광부를 통해 수신된 빛을 이용하여 상기 검사 대상물의 특성에 대한 정보를 획득하는 획득부를 포함하고, 상기 검사 대상물은 회로 패턴, 및 상기 회로 패턴 상에 배치되고 비아 홀을 구비한 절연층을 포함하는 회로 기판이고, 상기 광원부는 상기 비아 홀과 수직 방향을 따라 중첩된 회로 패턴의 표면으로 상기 빛을 제공한다....

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	KWON JI NA
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS MEASURING PHYSICS PRINTED CIRCUITS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	실시 예에 따른 산화도 측정 장치는 검사 대상물로 빛을 제공하는 광원부; 상기 검사 대상물로부터 반사 또는 산란되는 빛을 수신하는 수광부; 및 상기 수광부를 통해 수신된 빛을 이용하여 상기 검사 대상물의 특성에 대한 정보를 획득하는 획득부를 포함하고, 상기 검사 대상물은 회로 패턴, 및 상기 회로 패턴 상에 배치되고 비아 홀을 구비한 절연층을 포함하는 회로 기판이고, 상기 광원부는 상기 비아 홀과 수직 방향을 따라 중첩된 회로 패턴의 표면으로 상기 빛을 제공한다.