DEVICE AND METHOD FOR RAPIDLY MEASURING IMPEDANCE OF ELECTROCHEMICAL DEVICE STACK

본 실시예는, 전기화학소자 스택의 임피던스를 신속하게 측정하는 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 저주파수대에서 전기화학소자 스택의 임피던스 측정 시간을 단축할 수 있고, 간단한 구성만으로 전기화학소자 스택의 임피던스를 측정할 수 있는 장치 및 방법에 관한 것이다....

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	OH HWAN YEONG, PARK SUK IN, HAN SOO BIN, CHOI YOON YOUNG, OH SEA SEUNG, LEE WON YONG, SONG YU JIN, PAEK JONG BOK
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 실시예는, 전기화학소자 스택의 임피던스를 신속하게 측정하는 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 저주파수대에서 전기화학소자 스택의 임피던스 측정 시간을 단축할 수 있고, 간단한 구성만으로 전기화학소자 스택의 임피던스를 측정할 수 있는 장치 및 방법에 관한 것이다.