곡률 보정

테라헤르츠 방사선을 갖는 상기 표면을 검사할 때, 곡면의 코팅 층들의 상기 두께를 결정하기 위한 방법 및 장치가 제공된다. 상기 방법은 감지된 반사된 방사선을 측정하는 것을 수반하고, 상기 층들의 상기 두께들을 획득하기 위해 보정 계수를 적용한다. 이는 코팅의 두께를 결정할 때, 상기 표면의 상기 곡률에 대한 보상하는 상기 문제를 다룬다. A method and apparatus is provided for determining the thickness of coating layers of a curved surface when examining the surface with terahertz radiation. The method involves measuring detected reflected radiation and applies a correction factor to obtain the thicknesses of the layers. This addresses the problem of compensating for the curvature of the surface when determining coating thickness.