TEST PROBE AND MEHOD OF FABRICATING THE SAME

관상 배럴과 상기 배럴의 내측에 슬라이딩 가능하게 부분 삽입되는 플런저를 포함하는 검사프로브의 제조방법이 개시된다. 검사프로브의 제조방법은 상기 배럴의 일단부에 축경부를 형성하는 단계, 상기 축경부 단부의 내경을 상기 배럴의 축선방향으로 원통형 절삭 가공하는 단계 및 적어도 상기 축경부 영역에 상기 축선방향을 따라 복수의 슬릿을 형성하는 단계를 포함한다....

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	I, CHAE YUN, LIM MIN JU, BAEK SEUNG HA, KIM CHANG WOOK
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	관상 배럴과 상기 배럴의 내측에 슬라이딩 가능하게 부분 삽입되는 플런저를 포함하는 검사프로브의 제조방법이 개시된다. 검사프로브의 제조방법은 상기 배럴의 일단부에 축경부를 형성하는 단계, 상기 축경부 단부의 내경을 상기 배럴의 축선방향으로 원통형 절삭 가공하는 단계 및 적어도 상기 축경부 영역에 상기 축선방향을 따라 복수의 슬릿을 형성하는 단계를 포함한다.