MEMORY DEVICE HAVING TEST PAD CONNECTION CIRCUIT

본 발명에 따른 메모리 장치는, 복수의 핀 중 적어도 하나의 핀을 통해 수신한 적어도 하나의 테스트 모드 진입 신호에 기초하여, 상기 메모리 장치의 테스트 모드의 진입 여부를 판단하고, 테스트 모드 검출 신호를 생성하는 테스트 모드 검출부 및 상기 테스트 모드 검출 신호에 기초하여, 상기 복수의 핀 중 미리 결정된(predetermined) 제1 핀으로 인가되는 신호를, 상기 테스트 모드의 전용 테스트 패드로 전달되도록, 상기 제1 핀과 상기 전용 테스트 패드를 전기적으로 연결하는 테스트 패드 연결회로를 포함한다. A memory device includes a test mode detector circuit that determines whether the memory device has entered a test mode based on at least one test mode entry signal received through at least one pin of a plurality of pins and generates a test mode detection signal, and a test pad connection circuit that electrically couples a first pin of the plurality of pins to a dedicated test pad of the test mode such that a signal applied to the first pin is transmitted to the dedicated test pad based on the test mode detection signal.