MEMORY INCLUDING ERROR CORRECTION CIRCUIT AND OPERATION METHOD OF MEMORY
메모리는, 메모리 코어; 상기 메모리 코어에서 리프레시 동작이 수행되지 않을 리프레시 제외 영역의 정보를 저장하는 리프레시 제외 영역 저장 회로; 상기 메모리 코어로부터 리드된 에러 정정 코드를 이용해 상기 메모리 코어로부터 리드된 데이터의 에러를 정정하는 에러 정정 회로; 에러 체크 동작시에 상기 에러 정정 회로를 이용해 상기 메모리 코어에 저장된 데이터의 에러를 체크하기 위한 에러 체크 동작 제어 회로; 상기 에러 체크 동작 중 발견되는 에러에 근거해 배드 영역을 분류해 저장하기 위한 배드 영역 분류 회로; 및 상기 리프레시 제...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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container_end_page | |
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container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | LEE GANG SIK |
description | 메모리는, 메모리 코어; 상기 메모리 코어에서 리프레시 동작이 수행되지 않을 리프레시 제외 영역의 정보를 저장하는 리프레시 제외 영역 저장 회로; 상기 메모리 코어로부터 리드된 에러 정정 코드를 이용해 상기 메모리 코어로부터 리드된 데이터의 에러를 정정하는 에러 정정 회로; 에러 체크 동작시에 상기 에러 정정 회로를 이용해 상기 메모리 코어에 저장된 데이터의 에러를 체크하기 위한 에러 체크 동작 제어 회로; 상기 에러 체크 동작 중 발견되는 에러에 근거해 배드 영역을 분류해 저장하기 위한 배드 영역 분류 회로; 및 상기 리프레시 제외 영역에 포함된 영역이 상기 배드 영역 분류 회로에 의해 상기 배드 영역으로 분류되는 것을 방지하는 블록킹 회로를 포함할 수 있다.
A memory includes: a memory core including memory regions; a refresh-excluded region storing circuit storing therein information on a refresh-excluded region on which a refresh operation is not to be performed among the memory regions; an error correction circuit correcting an error in data read from the memory core based on an error correction code read from the memory core; an error check operation control circuit performing an error check operation of checking an error in the read data by using the error correction circuit; a bad region classifying circuit classifying a selected memory region as a bad region based on an error, which is detected in data read from the selected memory region during the error check operation; and a blocking circuit preventing the bad region classifying circuit from classifying the refresh-excluded region as a bad region based on the information. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20240059168A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20240059168A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20240059168A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPDwdfX1D4pU8PRz9gl18fRzV3ANCvIPUnD2DwpydQ7x9PdTcPYMcg71DFFw9HNR8A9wDXIEi_q6hnj4AwXcFCAm8DCwpiXmFKfyQmluBmU31xBnD93Ugvz41OKCxOTUvNSSeO8gIwMjEwMDU0tDMwtHY-JUAQDYGy3z</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>MEMORY INCLUDING ERROR CORRECTION CIRCUIT AND OPERATION METHOD OF MEMORY</title><source>esp@cenet</source><creator>LEE GANG SIK</creator><creatorcontrib>LEE GANG SIK</creatorcontrib><description>메모리는, 메모리 코어; 상기 메모리 코어에서 리프레시 동작이 수행되지 않을 리프레시 제외 영역의 정보를 저장하는 리프레시 제외 영역 저장 회로; 상기 메모리 코어로부터 리드된 에러 정정 코드를 이용해 상기 메모리 코어로부터 리드된 데이터의 에러를 정정하는 에러 정정 회로; 에러 체크 동작시에 상기 에러 정정 회로를 이용해 상기 메모리 코어에 저장된 데이터의 에러를 체크하기 위한 에러 체크 동작 제어 회로; 상기 에러 체크 동작 중 발견되는 에러에 근거해 배드 영역을 분류해 저장하기 위한 배드 영역 분류 회로; 및 상기 리프레시 제외 영역에 포함된 영역이 상기 배드 영역 분류 회로에 의해 상기 배드 영역으로 분류되는 것을 방지하는 블록킹 회로를 포함할 수 있다.
A memory includes: a memory core including memory regions; a refresh-excluded region storing circuit storing therein information on a refresh-excluded region on which a refresh operation is not to be performed among the memory regions; an error correction circuit correcting an error in data read from the memory core based on an error correction code read from the memory core; an error check operation control circuit performing an error check operation of checking an error in the read data by using the error correction circuit; a bad region classifying circuit classifying a selected memory region as a bad region based on an error, which is detected in data read from the selected memory region during the error check operation; and a blocking circuit preventing the bad region classifying circuit from classifying the refresh-excluded region as a bad region based on the information.</description><language>eng ; kor</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; INFORMATION STORAGE ; PHYSICS ; STATIC STORES</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240507&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240059168A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76516</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240507&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240059168A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LEE GANG SIK</creatorcontrib><title>MEMORY INCLUDING ERROR CORRECTION CIRCUIT AND OPERATION METHOD OF MEMORY</title><description>메모리는, 메모리 코어; 상기 메모리 코어에서 리프레시 동작이 수행되지 않을 리프레시 제외 영역의 정보를 저장하는 리프레시 제외 영역 저장 회로; 상기 메모리 코어로부터 리드된 에러 정정 코드를 이용해 상기 메모리 코어로부터 리드된 데이터의 에러를 정정하는 에러 정정 회로; 에러 체크 동작시에 상기 에러 정정 회로를 이용해 상기 메모리 코어에 저장된 데이터의 에러를 체크하기 위한 에러 체크 동작 제어 회로; 상기 에러 체크 동작 중 발견되는 에러에 근거해 배드 영역을 분류해 저장하기 위한 배드 영역 분류 회로; 및 상기 리프레시 제외 영역에 포함된 영역이 상기 배드 영역 분류 회로에 의해 상기 배드 영역으로 분류되는 것을 방지하는 블록킹 회로를 포함할 수 있다.
A memory includes: a memory core including memory regions; a refresh-excluded region storing circuit storing therein information on a refresh-excluded region on which a refresh operation is not to be performed among the memory regions; an error correction circuit correcting an error in data read from the memory core based on an error correction code read from the memory core; an error check operation control circuit performing an error check operation of checking an error in the read data by using the error correction circuit; a bad region classifying circuit classifying a selected memory region as a bad region based on an error, which is detected in data read from the selected memory region during the error check operation; and a blocking circuit preventing the bad region classifying circuit from classifying the refresh-excluded region as a bad region based on the information.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>INFORMATION STORAGE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>STATIC STORES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPDwdfX1D4pU8PRz9gl18fRzV3ANCvIPUnD2DwpydQ7x9PdTcPYMcg71DFFw9HNR8A9wDXIEi_q6hnj4AwXcFCAm8DCwpiXmFKfyQmluBmU31xBnD93Ugvz41OKCxOTUvNSSeO8gIwMjEwMDU0tDMwtHY-JUAQDYGy3z</recordid><startdate>20240507</startdate><enddate>20240507</enddate><creator>LEE GANG SIK</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240507</creationdate><title>MEMORY INCLUDING ERROR CORRECTION CIRCUIT AND OPERATION METHOD OF MEMORY</title><author>LEE GANG SIK</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20240059168A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2024</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>INFORMATION STORAGE</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>STATIC STORES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>LEE GANG SIK</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>LEE GANG SIK</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>MEMORY INCLUDING ERROR CORRECTION CIRCUIT AND OPERATION METHOD OF MEMORY</title><date>2024-05-07</date><risdate>2024</risdate><abstract>메모리는, 메모리 코어; 상기 메모리 코어에서 리프레시 동작이 수행되지 않을 리프레시 제외 영역의 정보를 저장하는 리프레시 제외 영역 저장 회로; 상기 메모리 코어로부터 리드된 에러 정정 코드를 이용해 상기 메모리 코어로부터 리드된 데이터의 에러를 정정하는 에러 정정 회로; 에러 체크 동작시에 상기 에러 정정 회로를 이용해 상기 메모리 코어에 저장된 데이터의 에러를 체크하기 위한 에러 체크 동작 제어 회로; 상기 에러 체크 동작 중 발견되는 에러에 근거해 배드 영역을 분류해 저장하기 위한 배드 영역 분류 회로; 및 상기 리프레시 제외 영역에 포함된 영역이 상기 배드 영역 분류 회로에 의해 상기 배드 영역으로 분류되는 것을 방지하는 블록킹 회로를 포함할 수 있다.
A memory includes: a memory core including memory regions; a refresh-excluded region storing circuit storing therein information on a refresh-excluded region on which a refresh operation is not to be performed among the memory regions; an error correction circuit correcting an error in data read from the memory core based on an error correction code read from the memory core; an error check operation control circuit performing an error check operation of checking an error in the read data by using the error correction circuit; a bad region classifying circuit classifying a selected memory region as a bad region based on an error, which is detected in data read from the selected memory region during the error check operation; and a blocking circuit preventing the bad region classifying circuit from classifying the refresh-excluded region as a bad region based on the information.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; kor |
recordid | cdi_epo_espacenet_KR20240059168A |
source | esp@cenet |
subjects | CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING INFORMATION STORAGE PHYSICS STATIC STORES |
title | MEMORY INCLUDING ERROR CORRECTION CIRCUIT AND OPERATION METHOD OF MEMORY |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-15T02%3A45%3A55IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=LEE%20GANG%20SIK&rft.date=2024-05-07&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20240059168A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |