SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR TRANSFERRING TRAY
본 발명은 검사하기 위한 기판을 탑재한 기판 트레이를 공급하고, 상기 기판 트레이에 탑재된 기판이 제거된 회수용 빈 트레이를 회수하는 기판 트레이 공급/회수부; 검사를 마친 기판을 검사 결과에 따라 선별하여 탑재하도록 공급용 빈 트레이를 공급하고 검사를 마친 기판을 탑재한 완료 기판 트레이를 회수하는 빈 트레이 공급/완료기판 회수부; 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이를 이송하는 트레이 이송 수단; 기판을 검사하는 검사부; 를 포함하고, 상기 기판 트레이 공급/회수부에는 상기 기판 트레이가 복수로 적재되는 기판 트레이 적...
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | LEE MAN SIK |
description | 본 발명은 검사하기 위한 기판을 탑재한 기판 트레이를 공급하고, 상기 기판 트레이에 탑재된 기판이 제거된 회수용 빈 트레이를 회수하는 기판 트레이 공급/회수부; 검사를 마친 기판을 검사 결과에 따라 선별하여 탑재하도록 공급용 빈 트레이를 공급하고 검사를 마친 기판을 탑재한 완료 기판 트레이를 회수하는 빈 트레이 공급/완료기판 회수부; 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이를 이송하는 트레이 이송 수단; 기판을 검사하는 검사부; 를 포함하고, 상기 기판 트레이 공급/회수부에는 상기 기판 트레이가 복수로 적재되는 기판 트레이 적재부가 마련되며, 상기 빈 트레이 공급/완료기판 회수부에는 기판이 없는 공급용 빈 트레이가 복수로 적재되는 빈 트레이 공급용 거치부가 구비되고, 상기 트레이 이송 수단은 복수로 적재된 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이의 최하단의 기판 트레이 또는 공급용 빈 트레이를 빼내서 상기 검사부로 이송하는 기판 검사 장치가 제공될 수 있다. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20240053909A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20240053909A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20240053909A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZDAMDnUKDglyDHFV8PQLDnB1DvH091NwcQ3zdHZVcPMPUgDK-QW7uQYFefq5gziRPAysaYk5xam8UJqbQdnNNcTZQze1ID8-tbggMTk1L7Uk3jvIyMDIxMDA1NjSwNLRmDhVABMNJ70</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR TRANSFERRING TRAY</title><source>esp@cenet</source><creator>LEE MAN SIK</creator><creatorcontrib>LEE MAN SIK</creatorcontrib><description>본 발명은 검사하기 위한 기판을 탑재한 기판 트레이를 공급하고, 상기 기판 트레이에 탑재된 기판이 제거된 회수용 빈 트레이를 회수하는 기판 트레이 공급/회수부; 검사를 마친 기판을 검사 결과에 따라 선별하여 탑재하도록 공급용 빈 트레이를 공급하고 검사를 마친 기판을 탑재한 완료 기판 트레이를 회수하는 빈 트레이 공급/완료기판 회수부; 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이를 이송하는 트레이 이송 수단; 기판을 검사하는 검사부; 를 포함하고, 상기 기판 트레이 공급/회수부에는 상기 기판 트레이가 복수로 적재되는 기판 트레이 적재부가 마련되며, 상기 빈 트레이 공급/완료기판 회수부에는 기판이 없는 공급용 빈 트레이가 복수로 적재되는 빈 트레이 공급용 거치부가 구비되고, 상기 트레이 이송 수단은 복수로 적재된 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이의 최하단의 기판 트레이 또는 공급용 빈 트레이를 빼내서 상기 검사부로 이송하는 기판 검사 장치가 제공될 수 있다.</description><language>eng ; kor</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240425&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240053909A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20240425&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20240053909A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LEE MAN SIK</creatorcontrib><title>SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR TRANSFERRING TRAY</title><description>본 발명은 검사하기 위한 기판을 탑재한 기판 트레이를 공급하고, 상기 기판 트레이에 탑재된 기판이 제거된 회수용 빈 트레이를 회수하는 기판 트레이 공급/회수부; 검사를 마친 기판을 검사 결과에 따라 선별하여 탑재하도록 공급용 빈 트레이를 공급하고 검사를 마친 기판을 탑재한 완료 기판 트레이를 회수하는 빈 트레이 공급/완료기판 회수부; 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이를 이송하는 트레이 이송 수단; 기판을 검사하는 검사부; 를 포함하고, 상기 기판 트레이 공급/회수부에는 상기 기판 트레이가 복수로 적재되는 기판 트레이 적재부가 마련되며, 상기 빈 트레이 공급/완료기판 회수부에는 기판이 없는 공급용 빈 트레이가 복수로 적재되는 빈 트레이 공급용 거치부가 구비되고, 상기 트레이 이송 수단은 복수로 적재된 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이의 최하단의 기판 트레이 또는 공급용 빈 트레이를 빼내서 상기 검사부로 이송하는 기판 검사 장치가 제공될 수 있다.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDAMDnUKDglyDHFV8PQLDnB1DvH091NwcQ3zdHZVcPMPUgDK-QW7uQYFefq5gziRPAysaYk5xam8UJqbQdnNNcTZQze1ID8-tbggMTk1L7Uk3jvIyMDIxMDA1NjSwNLRmDhVABMNJ70</recordid><startdate>20240425</startdate><enddate>20240425</enddate><creator>LEE MAN SIK</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240425</creationdate><title>SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR TRANSFERRING TRAY</title><author>LEE MAN SIK</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20240053909A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2024</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>LEE MAN SIK</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>LEE MAN SIK</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR TRANSFERRING TRAY</title><date>2024-04-25</date><risdate>2024</risdate><abstract>본 발명은 검사하기 위한 기판을 탑재한 기판 트레이를 공급하고, 상기 기판 트레이에 탑재된 기판이 제거된 회수용 빈 트레이를 회수하는 기판 트레이 공급/회수부; 검사를 마친 기판을 검사 결과에 따라 선별하여 탑재하도록 공급용 빈 트레이를 공급하고 검사를 마친 기판을 탑재한 완료 기판 트레이를 회수하는 빈 트레이 공급/완료기판 회수부; 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이를 이송하는 트레이 이송 수단; 기판을 검사하는 검사부; 를 포함하고, 상기 기판 트레이 공급/회수부에는 상기 기판 트레이가 복수로 적재되는 기판 트레이 적재부가 마련되며, 상기 빈 트레이 공급/완료기판 회수부에는 기판이 없는 공급용 빈 트레이가 복수로 적재되는 빈 트레이 공급용 거치부가 구비되고, 상기 트레이 이송 수단은 복수로 적재된 상기 기판 트레이 또는 상기 공급용 빈 트레이의 최하단의 기판 트레이 또는 공급용 빈 트레이를 빼내서 상기 검사부로 이송하는 기판 검사 장치가 제공될 수 있다.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; kor |
recordid | cdi_epo_espacenet_KR20240053909A |
source | esp@cenet |
subjects | MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING |
title | SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR TRANSFERRING TRAY |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-01T02%3A49%3A16IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=LEE%20MAN%20SIK&rft.date=2024-04-25&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20240053909A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |