METHOD FOR AUTOMATICALLY ADJUSTING REFERENCE BEAM PATH LENGTH FOR OPTIMIZING INTERFERENCE PATTERN FOR AUTOMATIC DIGITAL HOLOGRAPHIC MICORSCOPE AND APPARATUS THEREOF
본 발명은 빔 경로 길이 조정 장치에 의해 수행되는 방법에 있어서, 디지털 홀로그래픽 현미경을 통해 시료에 레이저 빔을 조사하여 획득된 홀로그램 패턴을 획득하는 단계, 상기 획득된 홀로그램 패턴 내 ROI 영역을 획득하는 단계, 상기 ROI 영역에서 간섭 패턴 명암 대비를 계산하는 단계 및 상기 명암 대비에 따라 디지털 홀로그래픽 현미경 내 레퍼런스 빔의 경로 길이를 조정하는 단계를 포함하는 디지털 홀로그래픽 현미경의 자동화를 위한 간섭 패턴 최적화 레퍼런스 빔 경로 길이 자동 조정 방법 및 그 장치에 관한 것이다....
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | 본 발명은 빔 경로 길이 조정 장치에 의해 수행되는 방법에 있어서, 디지털 홀로그래픽 현미경을 통해 시료에 레이저 빔을 조사하여 획득된 홀로그램 패턴을 획득하는 단계, 상기 획득된 홀로그램 패턴 내 ROI 영역을 획득하는 단계, 상기 ROI 영역에서 간섭 패턴 명암 대비를 계산하는 단계 및 상기 명암 대비에 따라 디지털 홀로그래픽 현미경 내 레퍼런스 빔의 경로 길이를 조정하는 단계를 포함하는 디지털 홀로그래픽 현미경의 자동화를 위한 간섭 패턴 최적화 레퍼런스 빔 경로 길이 자동 조정 방법 및 그 장치에 관한 것이다. |
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