다차원 동적 부품 평균 테스트를 위한 시스템 및 방법

본 발명의 실시예들은, 본 발명의 실시예들에 따라 디바이스를 테스트하고 테스트 결과를 분석하여 이상치를 검출하는, 다차원 부품 평균 테스트를 위한 시스템 및 방법을 제공한다. 테스트는, 예를 들어, 유사한 디바이스의 델타 측정값, 측정 비율 또는 메타 파라미터를 정의하기 위해 고유 벡터 및 고유값을 식별하는 주성분 분석을 사용하여 다변량(예컨대, 이변량) 통계를 계산하는 것을 포함할 수 있다. 원시 테스트 결과 데이터는 잔여 공간으로 변환될 수 있고, 강건한 회귀가 수행되어 이상치 결과가 회귀에 영향을 미치는 것을 방지함으로써, 오버킬을 유리하게 줄일 수 있다. Embodiments of the present invention provide systems and methods for multidimensional parts average testing for testing devices and analyzing testing results to detect outliers according to embodiments of the present invention. The testing can include calculating multivariate (e.g., bivariate) statistics using delta measurements of like devices, a ratio of measurements, or principal component analysis that identifies eigenvectors and eigenvalues to define meta parameters, for example. Raw test result data can be converted to residual space and robust regression can be performed to prevent outlier results from influencing regression, thereby reducing overkill advantageously.