APPARATUS FOR INSPECTING ELECTRIC COMPONENT

본 발명은 전자 부품 검사장치에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명의 일 실시예에 따르면, 반사광 출력부; 전자 부품의 외관의 적어도 일부로부터 상기 반사광 출력부로의 광 이동경로를 제공하며 상기 전자 부품의 외관의 적어도 일부로부터 입사되는 광을 반사하는 반사부; 및 상기 반사부가 소정의 회전중심에 대하여 회전하도록 상기 반사부를 회전시키는 회전부를 포함하는, 전자 부품 검사장치가 제공될 수 있다....

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	NA YUN SUNG, NOH JONG KI
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 발명은 전자 부품 검사장치에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명의 일 실시예에 따르면, 반사광 출력부; 전자 부품의 외관의 적어도 일부로부터 상기 반사광 출력부로의 광 이동경로를 제공하며 상기 전자 부품의 외관의 적어도 일부로부터 입사되는 광을 반사하는 반사부; 및 상기 반사부가 소정의 회전중심에 대하여 회전하도록 상기 반사부를 회전시키는 회전부를 포함하는, 전자 부품 검사장치가 제공될 수 있다.