apparatus and method for inspecting defect of substrate

본 기판 결함검사장치는 유체공급부와, 유체공급부로부터 유체를 공급받는 침지부로서, 기판의 검사대상부분이 침지되는 침지부를 포함하고, 침지부는, 윈도우패널을 갖는 제 1 플레이트와, 제 1 플레이트와 나란하게 배치되는 제 2 플레이트로서, 제 1 플레이트와 사이에 공급된 유체가 채워진 유체층이 배치되는 제 2 플레이트를 포함하고, 침지부는, 제 1, 2 플레이트 사이에서 유체층에 침지되는 검사대상부분이 윈도우패널을 통해 외부로 검사가능하게 구성된다....

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Hauptverfasser: PARK KEUNHWAN, LEE GITAEK
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:본 기판 결함검사장치는 유체공급부와, 유체공급부로부터 유체를 공급받는 침지부로서, 기판의 검사대상부분이 침지되는 침지부를 포함하고, 침지부는, 윈도우패널을 갖는 제 1 플레이트와, 제 1 플레이트와 나란하게 배치되는 제 2 플레이트로서, 제 1 플레이트와 사이에 공급된 유체가 채워진 유체층이 배치되는 제 2 플레이트를 포함하고, 침지부는, 제 1, 2 플레이트 사이에서 유체층에 침지되는 검사대상부분이 윈도우패널을 통해 외부로 검사가능하게 구성된다.