3 / INPUT/OUTPUT REFERENCE VOLTAGE TRAINING METHOD IN THREE-DIMENSIONAL MEMORY DEVICES
3차원(3D) 메모리 디바이스의 입/출력 전압 훈련을 위한 방법이 개시된다. 방법은 다음 동작을 포함할 수 있다: (1) ODT(On-die Termination) 인에이블 상태에서 기준 전압 값을 설정하는 단계; (2) 기록 훈련 프로세스를 수행하도록 3D 메모리 디바이스를 제어하는 단계; (3) 추가 기록 교육 프로세스가 필요한지 여부를 결정하는 단계; (4) 추가 기록 훈련 프로세스가 필요하다고 결정하는 것에 응답하여, (1), (2), 및 (3)의 동작을 반복하는 단계; 및 (5) 추가 기록 훈련 프로세스가 필요하지 않다고...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | 3차원(3D) 메모리 디바이스의 입/출력 전압 훈련을 위한 방법이 개시된다. 방법은 다음 동작을 포함할 수 있다: (1) ODT(On-die Termination) 인에이블 상태에서 기준 전압 값을 설정하는 단계; (2) 기록 훈련 프로세스를 수행하도록 3D 메모리 디바이스를 제어하는 단계; (3) 추가 기록 교육 프로세스가 필요한지 여부를 결정하는 단계; (4) 추가 기록 훈련 프로세스가 필요하다고 결정하는 것에 응답하여, (1), (2), 및 (3)의 동작을 반복하는 단계; 및 (5) 추가 기록 훈련 프로세스가 필요하지 않다고 결정하는 것에 응답하여, 기준 전압 값을 최적화된 기준 전압 값으로 설정하는 단계.
Methods for input/output voltage training of a three-dimensional (3D) memory device is disclosed. The method can comprise the following operations: (1) setting a reference voltage value at an on-die termination (ODT) enabled status; (2) controlling the 3D memory device to perform a write training process; (3) determining whether a further write training process is needed; (4) in response to determining that the further write training process is needed, repeating operations (1), (2) and (3); and (5) in response to determining that the further write training process is not needed, setting the reference voltage value as an optimized reference voltage value. |
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