APPARATUS AND METHOD FOR CLASSIFYING QUANTUM STATES IN QUANTUM INFORMATION INTEGRATED PROCESSING SYSTEM

본 발명은 양자 정보 통합 처리시스템에서의 양자 상태 분류 장치 및 방법에 관한 것으로, 기계 학습 기반 분류기 모델을 훈련하고, 훈련된 분류기 모델을 테스트하여 펄스 레벨에서 큐비트 상태를 분류하는 기술에 관한 것으로, 본 발명의 일실시예에 따른 양자 상태 분류 장치는 큐비트(Qubit) 상태와 관련된 훈련 데이터 세트 및 평가 데이터 세트를 생성하는 데이터 세트 생성부, 상기 생성된 훈련 데이터 세트를 이용하여 복수의 분류기를 훈련하는 분류기 훈련부, 상기 생성된 평가 데이터 세트에 기반하여 상기 훈련된 복수의 분류기에 대한 분...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	KHAN AWAIS, SHIN HYUN DONG, ULLAH MUHAMMAD ASAD, SYED MUHAMMAD ABUZAR RIZV, ASIF NAEMA, KHALID UMAN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS COMPUTING COUNTING MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES NANOTECHNOLOGY PERFORMING OPERATIONS PHYSICS SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES TRANSPORTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 발명은 양자 정보 통합 처리시스템에서의 양자 상태 분류 장치 및 방법에 관한 것으로, 기계 학습 기반 분류기 모델을 훈련하고, 훈련된 분류기 모델을 테스트하여 펄스 레벨에서 큐비트 상태를 분류하는 기술에 관한 것으로, 본 발명의 일실시예에 따른 양자 상태 분류 장치는 큐비트(Qubit) 상태와 관련된 훈련 데이터 세트 및 평가 데이터 세트를 생성하는 데이터 세트 생성부, 상기 생성된 훈련 데이터 세트를 이용하여 복수의 분류기를 훈련하는 분류기 훈련부, 상기 생성된 평가 데이터 세트에 기반하여 상기 훈련된 복수의 분류기에 대한 분류 정확도의 중위수(median) 및 사분위수 범위(interquartile range)를 계산하고, 상기 계산된 분류 정확도에 기반하여 상기 복수의 분류기를 평가하는 분류기 평가부 및 상기 계산된 분류 정확도에 기반하여 상기 복수의 분류기 중 어느 하나의 분류기를 이용하여 큐비트 상태를 얽힘 상태(entangled state) 및 분리 가능한 상태(separatable state)로 분류하는 양자 상태 분류부를 포함할 수 있다.