A Method for Determining an Image of X-ray Inspection

본 발명은 엑스레이 검사용 영상 위치 결정 방법에 관한 것이다. 영상 위치 결정 방법은 각각의 검사 대상에 대한 엑스레이 스캔 영상이 획득되는 단계; 영상 중심 및 경계 영역이 설정되는 단계; 스캔 영상이 경계 영역의 중심으로 이동되는 단계; 및 스캔 영상이 경계 영역에 맞추어지도록 배율이 조절되는 단계를 포함한다....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	SE HWA PARK, HYEONG CHEOL KIM, BYUNG SEOK MIN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	본 발명은 엑스레이 검사용 영상 위치 결정 방법에 관한 것이다. 영상 위치 결정 방법은 각각의 검사 대상에 대한 엑스레이 스캔 영상이 획득되는 단계; 영상 중심 및 경계 영역이 설정되는 단계; 스캔 영상이 경계 영역의 중심으로 이동되는 단계; 및 스캔 영상이 경계 영역에 맞추어지도록 배율이 조절되는 단계를 포함한다.