MAPPING DEVICE AND A LOADPORT HAVING THE SAME

매핑 장치(500)는 용기(9)에 배치되고 감지 방향(D)을 따라 배열된 복수의 테스트 대상(91)을 감지하도록 구성된다. 매핑 장치(500)는, 제 1 광축(601)을 규정하고, 감지 방향(D)으로 이동하여 테스트 대상(91)을 감지하기 위해 용기(9)의 전방 측면(F)에 배치되도록 구성된 제 1 센서 그룹(6)과, 제 2 광축(701)을 규정하고, 감지 방향(D)으로 이동하여 테스트 대상(91)을 감지하기 위해 용기(9)의 전방 측면(F)에 배치되도록 구성된 제 2 센서 그룹(7)을 포함한다. 제 2 광축(701)은 제 1 광축...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	LIU JONUS
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES
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Beschreibung
Zusammenfassung:	매핑 장치(500)는 용기(9)에 배치되고 감지 방향(D)을 따라 배열된 복수의 테스트 대상(91)을 감지하도록 구성된다. 매핑 장치(500)는, 제 1 광축(601)을 규정하고, 감지 방향(D)으로 이동하여 테스트 대상(91)을 감지하기 위해 용기(9)의 전방 측면(F)에 배치되도록 구성된 제 1 센서 그룹(6)과, 제 2 광축(701)을 규정하고, 감지 방향(D)으로 이동하여 테스트 대상(91)을 감지하기 위해 용기(9)의 전방 측면(F)에 배치되도록 구성된 제 2 센서 그룹(7)을 포함한다. 제 2 광축(701)은 제 1 광축(601)에 대해 경사지고, 용기(9)의 전후 방향(FR)으로 제 1 광축(601)보다 앞서서 배치되고, 감지 방향(D)에서 제 1 광축(601)의 하류측에 배치된다.