METHOD OF MANUFACTURING MASK BLANKS MASK BLANKS AND PHOTOMASK

본 발명의 마스크 블랭크스는, 위상 시프트 마스크가 되는 층을 갖는다. 상기 마스크 블랭크스는, 투명 기판에 적층된 위상 시프트능을 가지며 크롬을 함유하는 마스크층을 갖는다. 상기 마스크층은 산소 및 질소를 함유한다. 상기 마스크층의 상기 투명 기판으로부터 이간되는 측의 표면에서 질소에 대한 산소의 조성비 O/N은, 20 이상이 된다. The invention relates to a manufacturing method of a mask blank, the mask blank and a photomask. This mask blan...

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Hauptverfasser: SEKINE MASAHIRO, SHIOZAKI EIJI, YAMADA SHINGO, MOCHIZUKI SATORU, HIGASHI SAYURI, MORIYAMA KUMIKO
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:본 발명의 마스크 블랭크스는, 위상 시프트 마스크가 되는 층을 갖는다. 상기 마스크 블랭크스는, 투명 기판에 적층된 위상 시프트능을 가지며 크롬을 함유하는 마스크층을 갖는다. 상기 마스크층은 산소 및 질소를 함유한다. 상기 마스크층의 상기 투명 기판으로부터 이간되는 측의 표면에서 질소에 대한 산소의 조성비 O/N은, 20 이상이 된다. The invention relates to a manufacturing method of a mask blank, the mask blank and a photomask. This mask blank has a layer that serves as a phase shift mask. The mask blank has a mask layer that is laminated on a transparent substrate, has phase shift ability, and contains chromium. The mask layer contains oxygen and nitrogen. The composition ratio (O/N) of oxygen to nitrogen on the surface of the mask layer on the side away from the transparent substrate is 20 or more.