임피던스 시뮬레이션을 사용한 교정 시스템 및 방법
임피던스 측정 디바이스(100a, 100b, 100c)의 교정 방법 및 장치가 제공된다. 임피던스 측정 디바이스는 위상-고정 전류 생성기(124)로 제1 AC 신호를 출력한다(502). 위상-고정 전류 생성기는 제1 AC 신호의 위상에 고정된 위상을 갖고 알려진 임피던스 값을 갖는 제시된 임피던스를 나타내는 진폭을 갖는 제2 AC 신호를 생성한다(504). 위상-고정 전류 생성기는 제2 AC 신호를 임피던스 측정 디바이스로 출력한다. 임피던스 측정 디바이스는 제시된 임피던스와 연관된 측정된 임피던스 값을 생성하기 위해 제2 AC 신...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | 임피던스 측정 디바이스(100a, 100b, 100c)의 교정 방법 및 장치가 제공된다. 임피던스 측정 디바이스는 위상-고정 전류 생성기(124)로 제1 AC 신호를 출력한다(502). 위상-고정 전류 생성기는 제1 AC 신호의 위상에 고정된 위상을 갖고 알려진 임피던스 값을 갖는 제시된 임피던스를 나타내는 진폭을 갖는 제2 AC 신호를 생성한다(504). 위상-고정 전류 생성기는 제2 AC 신호를 임피던스 측정 디바이스로 출력한다. 임피던스 측정 디바이스는 제시된 임피던스와 연관된 측정된 임피던스 값을 생성하기 위해 제2 AC 신호에 기초하여 임피던스 측정을 수행한다(506). 임피던스 측정 디바이스는 측정된 임피던스 값과 제시된 임피던스의 알려진 임피던스 값에 기초하여 교정된다(508).
A method and apparatus for calibrating an impedance measurement device (100a, 100b, 100c) are provided. The impedance measurement device outputs (502) a first AC signal to a phase-locked current generator (124). The phase-locked current generator generates (504) a second AC signal having a phase that is locked to a phase of the first AC signal and having an amplitude that is representative of a presented impedance having a known impedance value. The phase-locked current generator outputs the second AC signal to the impedance measurement device. The impedance measurement device performs (506) an impedance measurement based on the second AC signal to produce a measured impedance value associated with the presented impedance. The impedance measurement device is calibrated (508) based on the measured impedance value and the known impedance value of the presented impedance. |
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