디바이스 성능 모니터링 시스템
본 발명은 적어도 하나의 전자 디바이스들의 성능을 개선하기 위한 시스템과 대응하는 방법 및 컴퓨터 구현 소프트웨어에 관한 것이며, 상기 디바이스들은 적어도 하나의 센서들 및 상기 센서들 중 적어도 하나에 의해 생성되는 데이터에 응답하는 디바이스 반응을 정의하는 모델을 포함한다. 시스템은 상기 센서들로부터 생성된 데이터 및 데이터에 대한 반응들을 분석하고, 의도된 반응들과 비교하여 반응들의 오류들을 등록하도록 구성된 모델 생성기를 포함하며, 여기서 모델 생성기는 상기 적어도 하나의 전자 디바이스들에 대해 레코딩된 샘플들의 세트에 기초...
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Format: | Patent |
Sprache: | kor |
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Zusammenfassung: | 본 발명은 적어도 하나의 전자 디바이스들의 성능을 개선하기 위한 시스템과 대응하는 방법 및 컴퓨터 구현 소프트웨어에 관한 것이며, 상기 디바이스들은 적어도 하나의 센서들 및 상기 센서들 중 적어도 하나에 의해 생성되는 데이터에 응답하는 디바이스 반응을 정의하는 모델을 포함한다. 시스템은 상기 센서들로부터 생성된 데이터 및 데이터에 대한 반응들을 분석하고, 의도된 반응들과 비교하여 반응들의 오류들을 등록하도록 구성된 모델 생성기를 포함하며, 여기서 모델 생성기는 상기 적어도 하나의 전자 디바이스들에 대해 레코딩된 샘플들의 세트에 기초하여 모델의 희망되는 출력과 모델의 실제 출력 사이의 오류들을 최소화함으로써 디바이스 모델을 조정하도록 구성되고, 레코딩된 샘플들은 오류의 발생 시에 디바이스가 다수의 미리 정의된 상태들 중 어떤 상태에 있는지에 관한 정보, 발생된 오류의 시간에 관한 정보, 및 지정된 시간 및/또는 상태에서의 오류들의 수에 관한 정보를 포함한다.
The present invention is related to a system and corresponding method and computer implemented software for improving performance of at least one electronic devices, said devices including at least one sensors and a model defining the device reaction in response to data produced by at least one of said sensors. The system includes a model generator configured to analyze the data produced from said sensors and the reactions to the data, and register errors in the reactions as compared with the intended reactions, wherein the model generator is configured to adjust the device model by minimizing errors between the actual output of the model and the desired output of the model, based on a set of samples recorded on said at least one electronic devices, wherein the recorded samples include information related to which of a number of predefined states the device is in at the occurrence of the error, the time of the occurred error, and the number of errors at the specified time and/or state. |
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