프로브 카드를 제조하는 방법

프로브 카드를 제조하는 방법이 본원에 개시되며, 방법은: 캐리어 보드를 제공하는 단계로서, 캐리어 보드의 표면은 적어도 하나의 프로브 가이드부를 갖는, 단계; 및 프로브를 생성하기 위해 적어도 하나의 프로브 가이드부 상에 직접 전도성 재료로 적층 제조를 수행함으로써 프로브 가이드부 상에 프로브를 생성하는 단계를 포함하고, 적층 제조는 프로브 가이드부 상에 전도성 재료를 직접 적층하는 단계를 포함한다. Disclosed herein is a method for producing a probe card, the method compri...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SCHUERCH PATRIK, LIN KUN HSIEN, HEPP EDGAR, KOELMANS WABE
Format: Patent
Sprache:kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:프로브 카드를 제조하는 방법이 본원에 개시되며, 방법은: 캐리어 보드를 제공하는 단계로서, 캐리어 보드의 표면은 적어도 하나의 프로브 가이드부를 갖는, 단계; 및 프로브를 생성하기 위해 적어도 하나의 프로브 가이드부 상에 직접 전도성 재료로 적층 제조를 수행함으로써 프로브 가이드부 상에 프로브를 생성하는 단계를 포함하고, 적층 제조는 프로브 가이드부 상에 전도성 재료를 직접 적층하는 단계를 포함한다. Disclosed herein is a method for producing a probe card, the method comprising the steps: Providing a carrier board, wherein the surface of the carrier board has at least one probe guiding portion; and Generating a probe on the probe guiding portion by performing additive manufacturing with a conductive material directly on the at least one probe guiding portion to generate the probe, wherein additive manufacturing comprises directly layering the conductive material on the probe guiding portion.