축을 따른 이동을 검출하기 위한 장치 및 방법
축을 따라 변위 가능한 제어기의 축방향 포지션에 따라 제어 신호를 제공하기 위한 장치. 이 장치는 축을 따라 제어기와 함께 변위되는 구성요소, 방사선을 표적 영역을 향해 안내하도록, 그리고 표적 영역 내로부터 반사된 방사선에 따라 검출기 신호를 생성하도록 구성된 방사선원 및 검출기 배열체, 및 검출기 신호를 처리하여 표적 영역 내의 반사 표면 영역까지의 거리 또는 거리 변화의 측정값을 결정하도록, 그리고 측정값을 사용하여 제어 신호를 제공하도록 구성된 컴퓨터 프로세서를 포함한다. 구성요소는 표적 영역을 통과하는 반사 표면을 형성하여...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | 축을 따라 변위 가능한 제어기의 축방향 포지션에 따라 제어 신호를 제공하기 위한 장치. 이 장치는 축을 따라 제어기와 함께 변위되는 구성요소, 방사선을 표적 영역을 향해 안내하도록, 그리고 표적 영역 내로부터 반사된 방사선에 따라 검출기 신호를 생성하도록 구성된 방사선원 및 검출기 배열체, 및 검출기 신호를 처리하여 표적 영역 내의 반사 표면 영역까지의 거리 또는 거리 변화의 측정값을 결정하도록, 그리고 측정값을 사용하여 제어 신호를 제공하도록 구성된 컴퓨터 프로세서를 포함한다. 구성요소는 표적 영역을 통과하는 반사 표면을 형성하여, 반사 표면 영역이 표적 영역 내에서 축을 따라 구성요소의 축방향 포지션에 따라 달라지는 거리로 존재한다.
An apparatus may provide a control signal based on an axial position of a controller displaceable along an axis. The apparatus may include a component for displacement with said controller along said axis, a radiation source and detector arrangement configured to direct radiation towards a target region and generate a detector signal dependent upon radiation reflected from within that target region, and a computer processor configured to process said detector signal to determine a measure of distance or change of distance to a reflecting surface region within said target region, and to use said measure to provide said control signal. The component may define a reflecting surface that passes through said target region such that a reflecting surface region is present within said target region with a distance that varies with the axial position of the component along said axis. |
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