검사 장치, 수지 성형 장치, 절단 장치, 수지 성형품의제조 방법, 및, 절단품의 제조 방법
검사 장치는, 카메라와, 동축 조명을 구비하고 있다. 동축 조명은, 하프 미러와, 광원부와, 판상 부재와, 조정부를 포함하고 있다. 하프 미러는, 검사 대상물과 카메라를 연결하는 관찰축 상에 있어서, 관찰축에 대하여 비스듬하게 되도록 배치되어 있다. 광원부는, 관찰축과는 다른 방향으로부터 하프 미러를 향하여 광을 발하도록 구성되어 있다. 광원부에 의해 발해진 광은 하프 미러에서 반사되어 검사 대상물에 조사된다. 판상 부재는, 광원부와 하프 미러 사이에 배치되어 있다. 판상 부재에는, 서로 대략 평행인 복수의 슬릿이 형성되어 있다....
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | 검사 장치는, 카메라와, 동축 조명을 구비하고 있다. 동축 조명은, 하프 미러와, 광원부와, 판상 부재와, 조정부를 포함하고 있다. 하프 미러는, 검사 대상물과 카메라를 연결하는 관찰축 상에 있어서, 관찰축에 대하여 비스듬하게 되도록 배치되어 있다. 광원부는, 관찰축과는 다른 방향으로부터 하프 미러를 향하여 광을 발하도록 구성되어 있다. 광원부에 의해 발해진 광은 하프 미러에서 반사되어 검사 대상물에 조사된다. 판상 부재는, 광원부와 하프 미러 사이에 배치되어 있다. 판상 부재에는, 서로 대략 평행인 복수의 슬릿이 형성되어 있다. 조정부는, 판상 부재의 배치를 조정하도록 구성되어 있다.
This inspection device comprises a camera and coaxial illumination. The coaxial illumination comprises a half mirror, a light source unit, a plate-shaped member, and an adjustment unit. The half mirror is disposed so as to be inclined in relation to an observation axis joining an object under inspection and the camera upon the observation axis. The light source unit emits light toward the half mirror from a different direction than the observation axis. The light emitted by the light source unit is reflected by the half mirror and emitted onto the object under inspection. The plate-shaped member is disposed between the light source unit and half mirror. A plurality of roughly parallel slits are formed in the plate-shaped member. The adjustment unit is for adjusting the placement of the plate-shaped member. |
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