ELECTROMAGNETIC ANALYSIS METHOD FOR THIN FILM MATERIALS

Disclosed is an electromagnetic wave analysis method capable of quickly and accurately analyzing the electromagnetic wave characteristics of a thin film material. The electromagnetic wave analysis method for a thin film material using dispersion characteristics comprises: a step of receiving a parameter value for electromagnetic wave analysis of a thin film material; and a step of using the parameter value and an finite difference time domain (FDTD) equation to perform an FDTD update for electromagnetic wave analysis of the thin film material. An electric field and magnetic field update equation in the FDTD equation is an equation to which a complex frequency shifted-perfectly matched layer (CFS-PML) condition is applied. The step of performing the FDTD update uses the CFS-PML and an impedance network boundary condition (INBC) to update the magnetic field of the upper and lower surfaces of the thin film material. 보다 빠르고 정확하게 박막 물질의 전자기파 특성을 해석할 수 있는 전자기파 해석 방법이 개시된다. 개시된 분산 특성을 이용한 박막 물질에 대한 전자기파 해석 방법은 박막 물질의 전자기파 해석을 위한 파라미터값을 입력받는 단계; 및 FDTD 방정식 및 상기 파라미터값을 이용하여, 상기 박막 물질의 전자기파 해석을 위한 FDTD 업데이트를 수행하는 단계를 포함하며, 상기 FDTD 방정식 중 전기장 및 자기장 업데이트 방정식은 CFS-PML(Complex Frequency Shifted-Perfectly Matched Layer) 조건이 적용된 방정식이며, 상기 FDTD 업데이트를 수행하는 단계는 상기 CFS-PML 및 임피던스 네트워크 경계 조건(INBC)을 이용하여, 상기 박막 물질의 상부면 및 하부면의 자기장을 업데이트한다.