DETECTION OF STRUCTURES
Provided is a method for detecting structures. The method can include a step of receiving inspection image data characterizing a region of interest of an object to be inspected. The region of interest can include at least one structure of the object. The method can further include a step of determin...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | Provided is a method for detecting structures. The method can include a step of receiving inspection image data characterizing a region of interest of an object to be inspected. The region of interest can include at least one structure of the object. The method can further include a step of determining a structure in the region of interest with respect to photometric attributes of pixel data from the inspection image data, using a computer vision algorithm. The structures can be determined using a predictive model trained to determine image filter parameter values for image filters of the computer vision algorithm based on the application of optimization techniques using training image data and annotation data. For example, a mark of the structure can be provided for storage in a display or memory. Systems and computer-readable media implementing the method are also provided.
구조물들을 검출하기 위한 방법이 제공된다. 방법은 검사되는 대상의 관심 영역을 특징짓는 검사 이미지 데이터를 수신하는 단계를 포함할 수 있다. 관심 영역은 대상의 하나 이상의 구조물들을 포함할 수 있다. 방법은 또한, 컴퓨터 비전 알고리즘을 이용하여, 검사 이미지 데이터에서 픽셀 데이터의 광도계 속성들에 대해 관심 영역 내의 구조물을 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 구조물은 트레이닝 이미지 데이터 및 주석 데이터를 이용하여 최적화 기술들을 적용하는 것에 기초하여 컴퓨터 비전 알고리즘의 이미지 필터들에 대해 이미지 필터 파라미터 값들을 결정하도록 트레이닝된 예측 모델을 이용하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 또는 메모리 내의 저장을 위해 구조물의 표시가 제공될 수 있다. 방법을 구현하는 시스템들 및 컴퓨터 판독가능 매체들이 또한 제공된다. |
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