이상 판정 모델 생성 장치, 이상 판정 장치, 이상 판정 모델 생성 방법 및 이상 판정 방법

이상 판정 모델 생성 장치는, L 차원의 변수 공간 상에 있어서의 K 개의 L 차원 벡터에 대해, 각 변수간의 상관의 최대값이 소정값 미만인 경우에는, 각 변수의 평균 및 분산을 연산함으로써, 제 1 이상 판정 모델을 생성하고, 각 변수간의 상관의 최대값이 소정값 이상인 경우에는, 주성분 분석을 실시하여 주성분의 변환 계수를 연산함으로써, 제 2 이상 판정 모델을 생성하고, 정상 동작시의 시계열 신호가, M 종 (M ≥ 2) 인 경우에는, 동일 시각에 있어서의 M 종의 변수로 이루어지는 M 차원 벡터를 구성하고, 복수의 M 차원 벡터에 대해 주성분 분석을 실시하여 주성분의 변환 계수를 연산함으로써, 제 3 이상 판정 모델을 생성한다. An abnormality determination model generating device generates a first abnormality determination model by calculating an average and a variance of each of variables in a case where a maximum value of a correlation between the variables is less than a predetermined value for K L-dimensional vectors in an L-dimensional variable space, generates a second abnormality determination model by performing principal component analysis and calculating a transformation coefficient of a principal component in a case where the maximum value of the correlation between the variables is greater than or equal to a predetermined value, and configures an M-dimensional vector including M types of variables at the same time and generates a third abnormality determination model by performing principal component analysis on a plurality of M-dimensional vectors and calculating a transformation coefficient of a principal component in a case where time-series signals during normal operation have M types (M ≥ 2).