MEMORY SYSTEM FOR PERFORMING A RECOVERY OPERATION A MEMORY DEVICE AND AN OPERATING METHOD THEREOF

A memory system, a memory device, and an operation method thereof are disclosed. A memory controller detects a first memory block having a deterioration count greater than or equal to a reference value and transmits a command to the memory device. In response to the command, the memory device applie...

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Hauptverfasser: OH EUN CHU, SONG YOUNG GUL, JANG BYUNG CHUL, SEOK JUN YEONG
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:A memory system, a memory device, and an operation method thereof are disclosed. A memory controller detects a first memory block having a deterioration count greater than or equal to a reference value and transmits a command to the memory device. In response to the command, the memory device applies a first voltage to all of the plurality of word lines connected to the first memory block and applies a second voltage to the bit line of the first memory block. The first voltage is higher than the voltage applied to turn on memory cells connected to all of the plurality of word lines connected to the first memory block. The second voltage is higher than the voltage applied to the bit line during a program operation, read operation, or erase operation for the memory device. Therefore, it is possible to solve the reliability deterioration of the memory device that occurs as program/erase cycles accumulate in the memory block. 메모리 시스템, 메모리 장치 및 그 동작방법이 개시된다. 메모리 컨트롤러는 기준 값 이상의 열화 카운트를 갖는 제1 메모리 블록을 검출하고, 커맨드를 메모리 장치에 전송한다. 메모리 장치는 커맨드에 응답하여 제1 메모리 블록에 연결되는 복수의 워드라인들 모두에 제1 전압을 인가하고, 제1 메모리 블록의 비트라인에 제2 전압을 인가한다. 제1 전압은, 제1 메모리 블록에 연결되는 복수의 워드라인들 모두에 연결된 메모리 셀들을 턴-온시키기 위해 인가되는 전압보다 높다. 제2 전압은, 메모리 장치에 대한 프로그램 동작, 리드 동작 또는 소거 동작 시 비트라인에 인가되는 전압보다 높다.