A CHAMBER FOR MEASURING THE PERFORMANCE OF AN ANTENNA AND OPERATING METHOD THEREOF
An anechoic antenna chamber may comprise: a holder in which a device under test (DUT) can be mounted; at least one first antenna configured to radiate a first test signal of a first frequency band; a second antenna provided in an inner surface of the antenna chamber and configured to radiate a secon...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | An anechoic antenna chamber may comprise: a holder in which a device under test (DUT) can be mounted; at least one first antenna configured to radiate a first test signal of a first frequency band; a second antenna provided in an inner surface of the antenna chamber and configured to radiate a second test signal of a second frequency band; at least one driving unit configured to rotate the DUT; and a control circuit operatively connected to the at least one first antenna, the second antenna, and the at least one driving unit. The control circuit may be configured to rotate the DUT using the at least one driving, emit the first test signal having an intensity in a specified range via the at least one first antenna while rotating the DUT, and emit the second test signal via the second antenna. In addition to this, various embodiments identified through the specification are possible. According to embodiments, it is possible to improve the accuracy of measurement of reception sensitivity for a test signal to be measured.
무반사(Anechoic) 안테나 챔버(antenna chamber)는, DUT(device under test)가 장착될 수 있는 거치대, 제1 주파수 대역의 제1 테스트 신호를 방사하도록 구성되는 적어도 하나의 제1 안테나, 안테나 챔버의 내측면에 구비되고, 제2 주파수 대역의 제2 테스트 신호를 방사하도록 구성되는 제2 안테나, DUT를 회전시키도록 구성된 적어도 하나의 구동부, 및 적어도 하나의 제1 안테나, 제2 안테나, 및 적어도 하나의 구동부와 작동적으로 연결된 제어 회로를 포함할 수 있다. 제어 회로는, 적어도 하나의 구동부를 이용하여 DUT를 회전시키고, DUT를 회전시키는 동안 적어도 하나의 제1 안테나를 통해 지정된 범위의 세기를 가지는 제1 테스트 신호를 방사하고, 제2 안테나를 통해 제2 테스트 신호를 방사하도록 구성될 수 있다. 이 외에도 명세서를 통해 파악되는 다양한 실시 예가 가능하다. |
---|