Probe card pin insertion control device

The present invention relates to a probe card pin insertion control device. According to an embodiment of the present invention, a probe card pin insertion control device comprises: one or more pins which are formed to be curved, have both ends facing in the same direction, and are inserted into a probe card including a first layer and a second layer; a socket assembly having a pin socket portion for receiving the one or more pins, and providing pins provided in the pin socket portion; a transfer assembly including a clamp portion for picking up and transferring the pins provided in the socket assembly, and sequentially transferring the pins picked up in the socket assembly to a measurement assembly and an insertion assembly; the measurement assembly including a first displacement measuring portion which measures the displacement and curved inclination of the pin picked up by the clamp portion, and measures whether the pin picked up by the clamp portion is a pin which can be inserted into the insertion assembly; the insertion assembly which is equipped with the probe card, receives the pins which have been measured in the measurement assembly through the transfer assembly and inserts the pins into the probe card; and a control portion which controls the transfer assembly and the insertion assembly to insert the pin picked up by the clamp portion into the probe card provided in the insertion assembly. The control portion places the pin transferred from the clamp portion through the first layer in the vicinity of a hole formed in the second layer, and places a fastening portion on an upper portion of the pin to press the pin downward so that the pin passes through the second layer to be installed on the probe card. According to the present invention, the curved pin can be inserted into the probe card without being broken or damaged. 본 발명은 프로브카드 핀의 삽입제어 디바이스에 관한 것이다. 본 발명의 일실시 예에 따른 프로브카드 핀의 삽입제어 디바이스는 만곡(彎曲)되게 형성하되, 양 끝이 동일한 방향으로 향하도록 형성되며, 제1 레이어 및 제2 레이어를 포함하는 프로브카드에 삽입되는 하나 이상의 핀과, 하나 이상의 핀을 수용하는 핀소켓부가 배치되며, 핀소켓부에 구비된 핀을 제공하는 소켓 어셈블리와, 소켓 어셈블리에서 구비된 핀을 집어 이송할 수 있는 집게부가 포함되며, 소켓 어셈블리에서 집은 핀을 측정 어셈블리 및 삽입 어셈블리에 순차적으로 이송하는 이송 어셈블리와, 집게부에서 집은 핀의 변위 및 만곡된 경사도를 측정하는 제1 변위측정부를 포함하며, 집게부에서 집은 핀이 삽입 어셈블리에 삽입이 가능한 핀인지의 여부를 측정하는 측정 어셈블리와, 프로브카드가 구비되어 있고, 측정 어셈블리에서 측정 완료된 핀을 이송 어셈블리를 통해 제공 받아 핀을 프로브카드에 삽입하는 삽입 어셈블리 및 집게부에서 집은 핀을 삽입 어셈블리에 구비된 프로브카드에 삽입하기 위해 이송 어셈블리 및 삽입 어셈블리를 제어하는 제어부를 포함하며, 제어부는 집게부에서 이송된 핀을 제1 레이어를 관통하여 제2 레이어에 형성된 홀의 인근에 위치 시킨 이후, 체결부가 핀의 상부에 위치시켜